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窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究

黎海涛 杨亚培 邓兴成

黎海涛, 杨亚培, 邓兴成. 窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(5): 494-501.
引用本文: 黎海涛, 杨亚培, 邓兴成. 窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(5): 494-501.
Li Haitao, Yang Yapei, Deng Xingcheng. Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(5): 494-501.
Citation: Li Haitao, Yang Yapei, Deng Xingcheng. Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(5): 494-501.

窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究

基金项目: 

国防科研基金资助项目

详细信息
    作者简介:

    黎海涛 男 25岁 硕士生

  • 中图分类号: TN248.4;TN935.1

Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser

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出版历程
  • 收稿日期:  1998-08-05
  • 刊出日期:  1998-10-15

窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究

    基金项目:

    国防科研基金资助项目

    作者简介:

    黎海涛 男 25岁 硕士生

  • 中图分类号: TN248.4;TN935.1

摘要: 提出一种新颖的窄线宽半导体激光器测试技术-延迟光纤干涉法。利用部分相干光理论推出延迟光纤干涉的计算公式,通过模拟计算,总结出采用这种技术的测试方法,建立了实验系统,对实验结果进行数据分析,证明了这种新的测试技术方案是正确可行的。

English Abstract

黎海涛, 杨亚培, 邓兴成. 窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(5): 494-501.
引用本文: 黎海涛, 杨亚培, 邓兴成. 窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(5): 494-501.
Li Haitao, Yang Yapei, Deng Xingcheng. Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(5): 494-501.
Citation: Li Haitao, Yang Yapei, Deng Xingcheng. Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(5): 494-501.

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