SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法

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SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法

李平, 廖永波, 阮爱武, 李威, 李文昌

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李平, 廖永波, 阮爱武, 李威, 李文昌. SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(5): 716-720. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

引用本文:

李平, 廖永波, 阮爱武, 李威, 李文昌. SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(5): 716-720. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

LI Ping, LIAO Yong-bo, RUAN Ai-wu, LI Wei, LI Wen-chang. Novel Approach to Test Field Programmable Gate Array Based on SoC HW/SW Co-Verification Technology[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(5): 716-720. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

Citation:

LI Ping, LIAO Yong-bo, RUAN Ai-wu, LI Wei, LI Wen-chang. Novel Approach to Test Field Programmable Gate Array Based on SoC HW/SW Co-Verification Technology[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(5): 716-720. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

1.
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室成都 610054

基金项目:

部级预研基金

作者简介:
李平(1957-)，男，教授，博士生导师，主要从事FDGA芯片设计、红外读出电路芯片设计等方面的研究

中图分类号: TP206+.1

Novel Approach to Test Field Programmable Gate Array Based on SoC HW/SW Co-Verification Technology

1.
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices,University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054

摘要: 针对传统的基于纯硬件平台的FPGA芯片测试方法所存在的种种问题,提出并验证了一种基于软硬件协同技术的FPGA芯片测试方法。该方法引入了软件的灵活性与可观测性等软件技术优势,具有存储深度大、可测I/O管脚数目多、自动完成配置下载(不需人工干预)和自动定位FPGA中的错误等优点,提高了FPGA的测试速度和可靠性,并降低了测试成本,与传统的自动测试仪(ATE)相比有较高的性价比。采用软硬件协同方式针对Xilinx 4010的I/O单元进行了测试,实现了对FPGA芯片的自动反复配置、测试和错误定位。
- 配置 /
- 可编辑门阵列 /
- 软硬件协同 /
- 片上系统 /
- 测试
Abstract: Traditional field programmable gate array (FPGA) test schemes confront many problems, such as memory depth not large enough to meet requirement of configuration of many times, I/O pin counts usually less than needed, manual configuration generation and download, no position of fault sites, etc. A new approach to test FPGA based on SoC HW/SW co-verification technology is proposed and verified in the paper. This test scheme has taken advantage of flexibility and observability of software in conjunction with high-speed simulation of hardware. As a result, efficiency and reliability of the test can be enhanced without manual work. In the experiment, the proposed test approach has been applied to a Xilinx 4010 FPGA to implement automatic configuration, test as well as location of fault sites.
- configuration /
- FPGA /
- HW/SW co-verification /
- system on chip /
- test

[1]	姜书艳, 罗刚, 夏登明, 李琦, 宋国明. 片上网络互连线延迟故障测试方法研究 . 电子科技大学学报, 2016, 45(4): 557-563. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2016.04.008
[2]	吴浩洋, 王韬, 陈佳华, 龚健, 李晓光, 张高瀚, 吕松武. GRT:高性能可定制无线网络底层软硬件开放平台 . 电子科技大学学报, 2015, 44(1): 123-128. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.01.021
[3]	邓浩, 陈树强, 马磊. 计算光栅零级衍射场的模态层吸收法 . 电子科技大学学报, 2015, 44(6): 851-857. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.06.010
[4]	王晓喃, 钱焕延. 6LoWPAN无线传感器网络无缝移动切换方案 . 电子科技大学学报, 2013, 42(3): 415-419. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.01.019
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[6]	胡玮, 蒋大钢, 张静, 李晓峰. 无线光通信信道的大气湍流测试及分析 . 电子科技大学学报, 2011, 40(2): 223-226. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.02.013
[7]	常政威, 谢晓娜, 桑楠, 熊光泽. MPSoC软硬件划分的自动波竞争神经网络算法 . 电子科技大学学报, 2010, 39(5): 752-756. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.022
[8]	王剑, 王宏, 杨志家. 动态参数模型确定SoC中异步FIFO深度的方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(3): 447-450. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.03.031
[9]	江洪波, 黄盈. 基于功能虚拟原型的验证方法 . 电子科技大学学报, 2008, 37(2): 258-261.
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SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

1. 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室成都 610054

基金项目:

部级预研基金

作者简介:
李平(1957-)，男，教授，博士生导师，主要从事FDGA芯片设计、红外读出电路芯片设计等方面的研究

收稿日期: 2009-05-26
刊出日期: 2009-10-15

中图分类号: TP206+.1

关键词:

摘要: 针对传统的基于纯硬件平台的FPGA芯片测试方法所存在的种种问题,提出并验证了一种基于软硬件协同技术的FPGA芯片测试方法。该方法引入了软件的灵活性与可观测性等软件技术优势,具有存储深度大、可测I/O管脚数目多、自动完成配置下载(不需人工干预)和自动定位FPGA中的错误等优点,提高了FPGA的测试速度和可靠性,并降低了测试成本,与传统的自动测试仪(ATE)相比有较高的性价比。采用软硬件协同方式针对Xilinx 4010的I/O单元进行了测试,实现了对FPGA芯片的自动反复配置、测试和错误定位。

English Abstract

李平, 廖永波, 阮爱武, 李威, 李文昌. SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(5): 716-720. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

引用本文:

李平, 廖永波, 阮爱武, 李威, 李文昌. SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(5): 716-720. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

LI Ping, LIAO Yong-bo, RUAN Ai-wu, LI Wei, LI Wen-chang. Novel Approach to Test Field Programmable Gate Array Based on SoC HW/SW Co-Verification Technology[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(5): 716-720. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

Citation:

LI Ping, LIAO Yong-bo, RUAN Ai-wu, LI Wei, LI Wen-chang. Novel Approach to Test Field Programmable Gate Array Based on SoC HW/SW Co-Verification Technology[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(5): 716-720. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034

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