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模拟故障诊断中的容差处理方法研究

杨成林 田书林 龙兵

杨成林, 田书林, 龙兵. 模拟故障诊断中的容差处理方法研究[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 47-52. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009
引用本文: 杨成林, 田书林, 龙兵. 模拟故障诊断中的容差处理方法研究[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 47-52. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009
YANG Cheng-lin, TIAN Shu-lin, LONG Bing. Research on Tolerance Handling Method for Analog Fault Diagnosis[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(1): 47-52. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009
Citation: YANG Cheng-lin, TIAN Shu-lin, LONG Bing. Research on Tolerance Handling Method for Analog Fault Diagnosis[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(1): 47-52. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009

模拟故障诊断中的容差处理方法研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009
基金项目: 

国家自然科学基金(60934002);教育部博士点基金(20070614018)

详细信息
    作者简介:

    杨成林(1978-),男,博士生,主要从事模拟电路可测试性设计、测试与诊断方面的研究.

  • 中图分类号: TN710

Research on Tolerance Handling Method for Analog Fault Diagnosis

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出版历程
  • 收稿日期:  2009-07-31
  • 修回日期:  2010-03-22
  • 刊出日期:  2011-02-15

模拟故障诊断中的容差处理方法研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009
    基金项目:

    国家自然科学基金(60934002);教育部博士点基金(20070614018)

    作者简介:

    杨成林(1978-),男,博士生,主要从事模拟电路可测试性设计、测试与诊断方面的研究.

  • 中图分类号: TN710

摘要: 基于斜率故障模型的故障诊断方法较好地解决了线性电路的软故障和硬故障诊断问题,是一种很有价值的故障模型,但是容差问题使该方法不实用,基于此,给出了新的容差处理方法。首先斜率故障模型的公共点(由无故障时两个选定测点的电压值确定)不再是一个定值,而是在实际电路运行中获得,它包含了实际电路元件的容差信息。其次,受容差影响,元件斜率特征是一个扇形区域,该扇形区域可以通过计算或者仿真得到。该方法能较好地解决斜率故障模型中的容差问题。

English Abstract

杨成林, 田书林, 龙兵. 模拟故障诊断中的容差处理方法研究[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 47-52. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009
引用本文: 杨成林, 田书林, 龙兵. 模拟故障诊断中的容差处理方法研究[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 47-52. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009
YANG Cheng-lin, TIAN Shu-lin, LONG Bing. Research on Tolerance Handling Method for Analog Fault Diagnosis[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(1): 47-52. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009
Citation: YANG Cheng-lin, TIAN Shu-lin, LONG Bing. Research on Tolerance Handling Method for Analog Fault Diagnosis[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(1): 47-52. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009

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