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应用于不同类型FPGA的多模式调试系统

李文昌 万理 阮爱武 宋子健 于敦山

李文昌, 万理, 阮爱武, 宋子健, 于敦山. 应用于不同类型FPGA的多模式调试系统[J]. 电子科技大学学报, 2014, 43(5): 685-690. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009
引用本文: 李文昌, 万理, 阮爱武, 宋子健, 于敦山. 应用于不同类型FPGA的多模式调试系统[J]. 电子科技大学学报, 2014, 43(5): 685-690. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009
LI Wen-chang, WAN Li, RUA NAi-wu, SONG Zi-jian, YU Dun-shan. Multi-Mode Debugging System for VLSI Designs Using Different Types of FPGAs[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2014, 43(5): 685-690. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009
Citation: LI Wen-chang, WAN Li, RUA NAi-wu, SONG Zi-jian, YU Dun-shan. Multi-Mode Debugging System for VLSI Designs Using Different Types of FPGAs[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2014, 43(5): 685-690. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009

应用于不同类型FPGA的多模式调试系统

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009
详细信息
    作者简介:

    李文昌(1974-),男,博士,主要从事可编程器件的设计与测试、电源管理芯片的设计等方面的研究.

  • 中图分类号: TP306

Multi-Mode Debugging System for VLSI Designs Using Different Types of FPGAs

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出版历程
  • 收稿日期:  2013-05-03
  • 修回日期:  2014-05-21
  • 刊出日期:  2014-10-15

应用于不同类型FPGA的多模式调试系统

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009
    作者简介:

    李文昌(1974-),男,博士,主要从事可编程器件的设计与测试、电源管理芯片的设计等方面的研究.

  • 中图分类号: TP306

摘要: 随着超大规模集成电路(VLSI)以及片上系统(SoC)设计的日益复杂, 基于现场可编程门阵列(FPGA)的硬件仿效成为了必要环节. 为解决逻辑设计下载到基于FPGA的硬件仿效器后内部节点不可视的问题, 提出一种调试系统, 该调试系统使用了RTL级植入调试逻辑的调试方法, 统一的用户界面和软件侧底层接口, 并提供了ELA模式、Scan模式和Snapshot模式. 所有模式均使用统一的外部接口, 使得调试系统同时适用于Altera和Xilinx的FPGA. 实验结果表明, 与SignalTap和ChipScope模式相比, ELA模式消耗几乎相同的资源, 而Scan模式和Snapshot模式会消耗更少的FPGA资源.

English Abstract

李文昌, 万理, 阮爱武, 宋子健, 于敦山. 应用于不同类型FPGA的多模式调试系统[J]. 电子科技大学学报, 2014, 43(5): 685-690. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009
引用本文: 李文昌, 万理, 阮爱武, 宋子健, 于敦山. 应用于不同类型FPGA的多模式调试系统[J]. 电子科技大学学报, 2014, 43(5): 685-690. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009
LI Wen-chang, WAN Li, RUA NAi-wu, SONG Zi-jian, YU Dun-shan. Multi-Mode Debugging System for VLSI Designs Using Different Types of FPGAs[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2014, 43(5): 685-690. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009
Citation: LI Wen-chang, WAN Li, RUA NAi-wu, SONG Zi-jian, YU Dun-shan. Multi-Mode Debugging System for VLSI Designs Using Different Types of FPGAs[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2014, 43(5): 685-690. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009

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