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时间间隔测量的双扩展内插技术研究

古军 詹惠琴 习友宝

古军, 詹惠琴, 习友宝. 时间间隔测量的双扩展内插技术研究[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(2): 204-207.
引用本文: 古军, 詹惠琴, 习友宝. 时间间隔测量的双扩展内插技术研究[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(2): 204-207.
GU Jun, ZHAN Hui-qin, XI You-bao. Study of the Double Stretch Interpolation Technique for Time Interval Measurement[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(2): 204-207.
Citation: GU Jun, ZHAN Hui-qin, XI You-bao. Study of the Double Stretch Interpolation Technique for Time Interval Measurement[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(2): 204-207.

时间间隔测量的双扩展内插技术研究

详细信息
    作者简介:

    古军(1968-),男,工程师,主要从事测控技术与仪器方面的研究.

  • 中图分类号: TP202

Study of the Double Stretch Interpolation Technique for Time Interval Measurement

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出版历程
  • 收稿日期:  2005-11-04
  • 刊出日期:  2006-04-15

时间间隔测量的双扩展内插技术研究

    作者简介:

    古军(1968-),男,工程师,主要从事测控技术与仪器方面的研究.

  • 中图分类号: TP202

摘要: 提出了一种基于电容器充放电原理的双扩展内插法,研究了双扩展测时内插器的工作原理和误差分析。双扩展内插法与单扩展内插法相比,能大大提高测时分辨力,并显著减少其内插时间,有效地解决了单扩展内插法中高测时分辨力和快测量速率之间的矛盾。

English Abstract

古军, 詹惠琴, 习友宝. 时间间隔测量的双扩展内插技术研究[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(2): 204-207.
引用本文: 古军, 詹惠琴, 习友宝. 时间间隔测量的双扩展内插技术研究[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(2): 204-207.
GU Jun, ZHAN Hui-qin, XI You-bao. Study of the Double Stretch Interpolation Technique for Time Interval Measurement[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(2): 204-207.
Citation: GU Jun, ZHAN Hui-qin, XI You-bao. Study of the Double Stretch Interpolation Technique for Time Interval Measurement[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(2): 204-207.

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