PVDF/PDDA静电自组装超薄膜的制备与表征

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PVDF/PDDA静电自组装超薄膜的制备与表征

谢光忠, 王永, 叶芸, 蒋亚东

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谢光忠, 王永, 叶芸, 蒋亚东. PVDF/PDDA静电自组装超薄膜的制备与表征[J]. 电子科技大学学报, 2008, 37(3): 443-445,449.

引用本文:

谢光忠, 王永, 叶芸, 蒋亚东. PVDF/PDDA静电自组装超薄膜的制备与表征[J]. 电子科技大学学报, 2008, 37(3): 443-445,449.

XIE Guang-zhong, WANG Yong, YE Yun, JIANG Ya-dong. Preparation and Characterization of PVDF/PDDA Static Self-Assembly Ultrathin Film[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2008, 37(3): 443-445,449.

Citation:

XIE Guang-zhong, WANG Yong, YE Yun, JIANG Ya-dong. Preparation and Characterization of PVDF/PDDA Static Self-Assembly Ultrathin Film[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2008, 37(3): 443-445,449.

PVDF/PDDA静电自组装超薄膜的制备与表征

谢光忠^1,2,
王永^1,2,
叶芸^1,2,
蒋亚东^1,2

1.
电子科技大学光电信息学院成都 610054;
2.
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室成都 610054

基金项目:

国家高技术研究发展专项经费(2007AA03Z422);国家自然科学基金(60425101、60736005)

作者简介:
谢光忠(1968-),男,博士,副教授,主要从事敏感薄膜与传感器方面的研究.

中图分类号: TQ050.4

Preparation and Characterization of PVDF/PDDA Static Self-Assembly Ultrathin Film

1.
School of Optoelectronic Information,University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054;
2.
State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices,University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054

摘要: 提出了一种制备纳米量级铁电聚合物PVDF/PDDA超薄膜的新方法。聚二烯丙基二甲基氯化铵(PDDA)和极化处理后的聚偏氟乙烯(PVDF)复合超薄膜是通过层与层的静电自组装(LbL-SA)方法制备的,厚度约30~150 nm,每层膜厚度约为9 nm。PVDF/PDDA多层膜通过石英晶振微天平(QCM)、红外频谱仪、原子力显微镜(AFM)进行了测试与表征。QCM表征结果表明,PVDF与PDDA超薄膜能较好地交替组装;AFM表明PVDF/PDDA聚合物超薄膜的表面均匀、薄膜致密。与PVDF厚膜的电阻性能相比,PVDF/PDDA复合超薄膜的电阻性能有了很大提高。
- 铁电聚合物 /
- PVDF/PDDA /
- 自组装 /
- 超薄膜
Abstract: A novel method for the production of nanoscale polymeric multilayer films of ferroelectric PVDF/PDDA is presented. The ultrathin multilayer film of poly (diallyldimethylammonium chloride) (PDDA) and polyvinylidene fluoride (PVDF) has been prepared by the layer-by-layer static self-assembly (LbL-SA) method. The PVDF/PDDA multilayer film with the thickness ranging from about 30nm to 150 nm (the thickness of each layer is about 9nm.) is characterized by quartz crystal microbalance (QCM), atomic force microscope (AFM), X-ray diffraction (XRD), and infrared spectra (IR). The QCM reveals that the alternate ultrathin films of PVDF and PDDA are well orderly assembled. AFM results indicate that PVDF/PDDA polymeric multilayer film with high uniformity has been obtained. Compared with PVDF thick film, resistivity of PVDF/PDDA ultrathin film is dramatically enhanced.
- ferroelectric polymer /
- PVDF/PDDA /
- self-assembly /
- ultrathin films

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PVDF/PDDA静电自组装超薄膜的制备与表征

1. 电子科技大学光电信息学院成都 610054;

2. 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室成都 610054

基金项目:

国家高技术研究发展专项经费(2007AA03Z422);国家自然科学基金(60425101、60736005)

作者简介:
谢光忠(1968-),男,博士,副教授,主要从事敏感薄膜与传感器方面的研究.

收稿日期: 2006-11-25
修回日期: 2007-04-20
刊出日期: 2008-06-15

中图分类号: TQ050.4

关键词:

摘要: 提出了一种制备纳米量级铁电聚合物PVDF/PDDA超薄膜的新方法。聚二烯丙基二甲基氯化铵(PDDA)和极化处理后的聚偏氟乙烯(PVDF)复合超薄膜是通过层与层的静电自组装(LbL-SA)方法制备的,厚度约30~150 nm,每层膜厚度约为9 nm。PVDF/PDDA多层膜通过石英晶振微天平(QCM)、红外频谱仪、原子力显微镜(AFM)进行了测试与表征。QCM表征结果表明,PVDF与PDDA超薄膜能较好地交替组装;AFM表明PVDF/PDDA聚合物超薄膜的表面均匀、薄膜致密。与PVDF厚膜的电阻性能相比,PVDF/PDDA复合超薄膜的电阻性能有了很大提高。

English Abstract

谢光忠, 王永, 叶芸, 蒋亚东. PVDF/PDDA静电自组装超薄膜的制备与表征[J]. 电子科技大学学报, 2008, 37(3): 443-445,449.

引用本文:

谢光忠, 王永, 叶芸, 蒋亚东. PVDF/PDDA静电自组装超薄膜的制备与表征[J]. 电子科技大学学报, 2008, 37(3): 443-445,449.

XIE Guang-zhong, WANG Yong, YE Yun, JIANG Ya-dong. Preparation and Characterization of PVDF/PDDA Static Self-Assembly Ultrathin Film[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2008, 37(3): 443-445,449.

Citation:

XIE Guang-zhong, WANG Yong, YE Yun, JIANG Ya-dong. Preparation and Characterization of PVDF/PDDA Static Self-Assembly Ultrathin Film[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2008, 37(3): 443-445,449.

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