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磁盘阵列RAID可靠性分析

陈华英

陈华英. 磁盘阵列RAID可靠性分析[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(3): 403-405.
引用本文: 陈华英. 磁盘阵列RAID可靠性分析[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(3): 403-405.
CHEN Hua-ying. Reliability Analysis of RAID[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(3): 403-405.
Citation: CHEN Hua-ying. Reliability Analysis of RAID[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(3): 403-405.

磁盘阵列RAID可靠性分析

详细信息
    作者简介:

    陈华英(1965-),女,副教授,主要从事数据库、计算机辅助教学等方面的研究.

  • 中图分类号: TP333

Reliability Analysis of RAID

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出版历程
  • 收稿日期:  2006-01-26
  • 刊出日期:  2006-06-15

磁盘阵列RAID可靠性分析

    作者简介:

    陈华英(1965-),女,副教授,主要从事数据库、计算机辅助教学等方面的研究.

  • 中图分类号: TP333

摘要: 介绍了磁盘阵列的基本概念和常用的磁盘阵列种类,分析了RAID0、RAID3和RAID10三种磁盘阵列的可靠性值,同时与实验数据进行了比较。结果表明,磁盘阵列的可靠性值基于标准模型在一定程度上可以进行量化,能进行科学的计算,得出RAID10比相应其他的RAID的容量更大,可靠性更佳。该文的可靠性分析对磁盘阵列的进一步研究和生产能起到现实的指导作用。

English Abstract

陈华英. 磁盘阵列RAID可靠性分析[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(3): 403-405.
引用本文: 陈华英. 磁盘阵列RAID可靠性分析[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(3): 403-405.
CHEN Hua-ying. Reliability Analysis of RAID[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(3): 403-405.
Citation: CHEN Hua-ying. Reliability Analysis of RAID[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(3): 403-405.

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