SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型

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SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型

张金林, 沈绪榜, 陈朝阳

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张金林, 沈绪榜, 陈朝阳. SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(3): 611-613,631.

引用本文:

张金林, 沈绪榜, 陈朝阳. SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(3): 611-613,631.

ZHANG Jin-lin, SHEN Xu-bang, CHEN Chao-yang. A New Fault Model for Testing Signal Integrity in SoCs[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(3): 611-613,631.

Citation:

ZHANG Jin-lin, SHEN Xu-bang, CHEN Chao-yang. A New Fault Model for Testing Signal Integrity in SoCs[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(3): 611-613,631.

SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型

1.
华中科技大学图像识别与人工智能研究所教育部重点实验室武汉 430074;
2.
西安微电子技术研究所西安 710054

基金项目:

国家自然科学基金资助项目(90207020)

作者简介:
张金林(1977-),男,博士生,主要从事数字图像处理方面的研究.

中图分类号: TP393.03

A New Fault Model for Testing Signal Integrity in SoCs

1.
Institute of Image Recognition and Artificial Intelligence,the Key Lab of Ministry of Education,HuaZhong University of Science and Technology Wuhan 430074;
2.
Xi'an Microelectronic Technology Institute Xi'an 710054

摘要: 在对互联总线信号完整故障发生原理进行详细分析的基础上,提出了一种有效的互联总线信号完整性故障激励检测模型——HT模型。仿真结果表明该模型在故障覆盖率和测试矢量的有效性方面分别比已有的最大激励串扰故障模型和多重跳度模型有较大的改善。
- 信号完整性故障模型 /
- IP核间互联总线 /
- 片上系统
Abstract: Based on the in-depth research of the property of crosstalk fault, we presented a more efficiency Half Transition (HT) model to detecting signal integrity fault in System-on-Chip (SoC) interconnects between IP cores. In comparison with Maximal Aggressor Fault (MAF) model and Multiple Transition (MT) model, this HT model can achieve 100% faults coverage and need less test pattern. The result of theoretic analyses shows the HT model's excellence in comparison with MAF model in fault coverage and with to MT model in test pattern's efficiency.
- half transition model /
- signal integrity /
- system-on-chip

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[2]	王瑞锦, 张凤荔, 王馨云, 陈学勤, 罗昊, 秦圣智. 基于改进跳表的云端数据完整性验证协议 . 电子科技大学学报, 2018, 47(1): 88-94. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2018.01.013
[3]	赵洋, 王士雨, 吴松洋, 熊虎. 一种代理远程数据完整性审计协议 . 电子科技大学学报, 2016, 45(1): 80-85. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2016.01.013
[4]	李从善, 刘天琪, 李兴源, 曹喜民, 刘利兵. 基于排列熵算法的电力系统故障信号分析 . 电子科技大学学报, 2015, 44(2): 233-238. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.02.013
[5]	张磊, 陈兴蜀, 刘亮, 李辉. 基于虚拟机的内核完整性保护技术 . 电子科技大学学报, 2015, 44(1): 117-122. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.01.020
[6]	何进, 范明钰, 王光卫. 基于TWPos内核完整性保护 . 电子科技大学学报, 2015, 44(6): 892-898. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.06.017
[7]	钟婷, 耿纪昭, 熊虎, 秦志光. 云存储中基于SBT的数据完整性验证机制 . 电子科技大学学报, 2014, 43(6): 929-933. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.06.023
[8]	何进, 范明钰, 王光卫. 自动探测和保护确保内核完整性 . 电子科技大学学报, 2014, 43(4): 585-590. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.020
[9]	陈亦欧, 胡剑浩, 凌翔. 建立在De Bruijn图架构上的三维片上网络设计 . 电子科技大学学报, 2011, 40(2): 204-209. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.02.009
[10]	刘建, 陈杰, 敖天勇, 许汉荆. 片上异构多核DSP同步与通信的实现 . 电子科技大学学报, 2010, 39(4): 528-531,536. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.011
[11]	李平, 廖永波, 阮爱武, 李威, 李文昌. SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(5): 716-720. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.05.034
[12]	王剑, 王宏, 杨志家. 动态参数模型确定SoC中异步FIFO深度的方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(3): 447-450. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.03.031
[13]	江洪波, 黄盈. 基于功能虚拟原型的验证方法 . 电子科技大学学报, 2008, 37(2): 258-261.
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[20]	王厚军, 陈相富, 陈光. 基于总线观测的微机故障诊断专家系统研究 . 电子科技大学学报, 1998, 27(2): 161-165.

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SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型

1. 华中科技大学图像识别与人工智能研究所教育部重点实验室武汉 430074;

2. 西安微电子技术研究所西安 710054

基金项目:

国家自然科学基金资助项目(90207020)

作者简介:
张金林(1977-),男,博士生,主要从事数字图像处理方面的研究.

收稿日期: 2005-05-26
刊出日期: 2007-06-15

中图分类号: TP393.03

关键词:

摘要: 在对互联总线信号完整故障发生原理进行详细分析的基础上,提出了一种有效的互联总线信号完整性故障激励检测模型——HT模型。仿真结果表明该模型在故障覆盖率和测试矢量的有效性方面分别比已有的最大激励串扰故障模型和多重跳度模型有较大的改善。

English Abstract

张金林, 沈绪榜, 陈朝阳. SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(3): 611-613,631.

引用本文:

张金林, 沈绪榜, 陈朝阳. SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(3): 611-613,631.

ZHANG Jin-lin, SHEN Xu-bang, CHEN Chao-yang. A New Fault Model for Testing Signal Integrity in SoCs[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(3): 611-613,631.

Citation:

ZHANG Jin-lin, SHEN Xu-bang, CHEN Chao-yang. A New Fault Model for Testing Signal Integrity in SoCs[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(3): 611-613,631.

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