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DF-FPDLMS自适应滤波器的可测性设计与测试

肖继学 陈光礻禹 谢永乐

肖继学, 陈光礻禹, 谢永乐. DF-FPDLMS自适应滤波器的可测性设计与测试[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 740-743.
引用本文: 肖继学, 陈光礻禹, 谢永乐. DF-FPDLMS自适应滤波器的可测性设计与测试[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 740-743.
XIAO Ji-xue, CHEN Guang-ju, XIE Yong-lei. Design-for-Testability and Test of DF-FPDLMS Adaptive Filter[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 740-743.
Citation: XIAO Ji-xue, CHEN Guang-ju, XIE Yong-lei. Design-for-Testability and Test of DF-FPDLMS Adaptive Filter[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 740-743.

DF-FPDLMS自适应滤波器的可测性设计与测试

详细信息
    作者简介:

    肖继学(1972-),男,博士生,副教授,主要从事VLSI可测性、低功耗测试与设计和SoC的测试等方面的研究.

  • 中图分类号: TN407

Design-for-Testability and Test of DF-FPDLMS Adaptive Filter

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出版历程
  • 收稿日期:  2006-09-29
  • 刊出日期:  2006-08-15

DF-FPDLMS自适应滤波器的可测性设计与测试

    作者简介:

    肖继学(1972-),男,博士生,副教授,主要从事VLSI可测性、低功耗测试与设计和SoC的测试等方面的研究.

  • 中图分类号: TN407

摘要: 基于加法器的测试生成,提出了直接实现形式的细粒度流水线延迟最小均方自适应滤波器的一种可测性设计的测试方案。在测试模式下,该设计通过滤波器组成模块的分层隔离及由寄存器转化成的扫描链提高了可测性;通过复用部分寄存器和加法器避免或最小化了额外的测试硬件开销。该方法能在真速下高效地侦测到滤波器基本组成单元内的任意固定型组合失效,且不会降低电路的原有性能。

English Abstract

肖继学, 陈光礻禹, 谢永乐. DF-FPDLMS自适应滤波器的可测性设计与测试[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 740-743.
引用本文: 肖继学, 陈光礻禹, 谢永乐. DF-FPDLMS自适应滤波器的可测性设计与测试[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 740-743.
XIAO Ji-xue, CHEN Guang-ju, XIE Yong-lei. Design-for-Testability and Test of DF-FPDLMS Adaptive Filter[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 740-743.
Citation: XIAO Ji-xue, CHEN Guang-ju, XIE Yong-lei. Design-for-Testability and Test of DF-FPDLMS Adaptive Filter[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 740-743.

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