进位保留阵列乘法器的一种内建自测试

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进位保留阵列乘法器的一种内建自测试

杨德才, 陈光礻禹, 谢永乐

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杨德才, 陈光礻禹, 谢永乐. 进位保留阵列乘法器的一种内建自测试[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 751-754.

引用本文:

杨德才, 陈光礻禹, 谢永乐. 进位保留阵列乘法器的一种内建自测试[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 751-754.

YANG De-cai, CHEN Guang-ju, XIE Yong-le. A Built-in Self-Test Scheme for Carry Save Array Multiplier[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 751-754.

Citation:

YANG De-cai, CHEN Guang-ju, XIE Yong-le. A Built-in Self-Test Scheme for Carry Save Array Multiplier[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 751-754.

进位保留阵列乘法器的一种内建自测试

1.
电子科技大学自动化工程学院成都 610054

基金项目:

国家自然科学基金资助项目(90407007)

作者简介:
杨德才(1974-),男,博士生,主要从事大规模数字集成电路测试方面的研究.

中图分类号: TN407

A Built-in Self-Test Scheme for Carry Save Array Multiplier

1.
School of Automation Engineering,University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054

摘要: 对进位保留阵列乘法器提出了一种内建自测试方案。设计实现了采用累加器生成测试序列和压缩响应,并提出了一种改进的测试向量生成方法。分析与实验结果表明,该方案能实现非冗余固定型故障的完全覆盖。由于乘法器在数据通路中常伴有累加器,该方案通过对已有累加器的复用,作为测试序列生成和响应压缩,减少了硬件占用和系统性能占用,同时具有测试向量少、故障覆盖率高的特点。
- 内建自测试 /
- 进位保留阵列乘法器 /
- 可测性设计 /
- 伪穷举测试
Abstract: A built-in self-test scheme is presented for a carry save array multiplier in which an accumulator is designed as a test pattern generator and a response compactor. A modified deterministic test sequence is deduced. Analysis and Experiment results show that all the non-redundant stuck-at faults can be covered. As in current Very Large Scale Integration (VLSI) circuits accumulators commonly exist with multipliers, this scheme can lead to minimum hardware overhead and performance degradation by reusing available accumulators to generate test vectors and compact test responses. Moreover, this scheme can achieve the goal of short test sequences and high fault coverage.
- built-in selt-test /
- carry save array multiplier /
- design for testability /
- pseudo-exhaustive test

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进位保留阵列乘法器的一种内建自测试

1. 电子科技大学自动化工程学院成都 610054

基金项目:

国家自然科学基金资助项目(90407007)

作者简介:
杨德才(1974-),男,博士生,主要从事大规模数字集成电路测试方面的研究.

收稿日期: 2006-05-15
刊出日期: 2006-08-15

中图分类号: TN407

关键词:

摘要: 对进位保留阵列乘法器提出了一种内建自测试方案。设计实现了采用累加器生成测试序列和压缩响应,并提出了一种改进的测试向量生成方法。分析与实验结果表明,该方案能实现非冗余固定型故障的完全覆盖。由于乘法器在数据通路中常伴有累加器,该方案通过对已有累加器的复用,作为测试序列生成和响应压缩,减少了硬件占用和系统性能占用,同时具有测试向量少、故障覆盖率高的特点。

English Abstract

杨德才, 陈光礻禹, 谢永乐. 进位保留阵列乘法器的一种内建自测试[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 751-754.

引用本文:

杨德才, 陈光礻禹, 谢永乐. 进位保留阵列乘法器的一种内建自测试[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 751-754.

YANG De-cai, CHEN Guang-ju, XIE Yong-le. A Built-in Self-Test Scheme for Carry Save Array Multiplier[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 751-754.

Citation:

YANG De-cai, CHEN Guang-ju, XIE Yong-le. A Built-in Self-Test Scheme for Carry Save Array Multiplier[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 751-754.

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