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行波管“冷参数”测试技术的研究

郭高凤 李恩 张其劭 李宏福

郭高凤, 李恩, 张其劭, 李宏福. 行波管“冷参数”测试技术的研究[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 22-25.
引用本文: 郭高凤, 李恩, 张其劭, 李宏福. 行波管“冷参数”测试技术的研究[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 22-25.
GUO Gao-feng, LI En, ZHANG Qi-shao, LI Hong-fu. A Study on Measurement of “Cold Test Parameters” of TWT[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 22-25.
Citation: GUO Gao-feng, LI En, ZHANG Qi-shao, LI Hong-fu. A Study on Measurement of “Cold Test Parameters” of TWT[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 22-25.

行波管“冷参数”测试技术的研究

详细信息
    作者简介:

    郭高凤(1975-),女,硕士,讲师,主要从事微波技术和微波测试系统方面的研究.

  • 中图分类号: TN124

A Study on Measurement of “Cold Test Parameters” of TWT

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出版历程
  • 收稿日期:  2004-05-11
  • 刊出日期:  2005-02-15

行波管“冷参数”测试技术的研究

    作者简介:

    郭高凤(1975-),女,硕士,讲师,主要从事微波技术和微波测试系统方面的研究.

  • 中图分类号: TN124

摘要: 针对因螺旋线行波管慢波线的结构特殊,导致其管内输能机构和切断衰减器的反射系数不易测量的问题,提出了利用多点法对输能机构和切断衰减器的反射系数进行测量的方法,并讨论了测试中所用探针反射系数的测试技术。该方法具有无损伤、测试方便等优点,也可用于其他类似特殊结构反射系数的测量。

English Abstract

郭高凤, 李恩, 张其劭, 李宏福. 行波管“冷参数”测试技术的研究[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 22-25.
引用本文: 郭高凤, 李恩, 张其劭, 李宏福. 行波管“冷参数”测试技术的研究[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 22-25.
GUO Gao-feng, LI En, ZHANG Qi-shao, LI Hong-fu. A Study on Measurement of “Cold Test Parameters” of TWT[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 22-25.
Citation: GUO Gao-feng, LI En, ZHANG Qi-shao, LI Hong-fu. A Study on Measurement of “Cold Test Parameters” of TWT[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 22-25.

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