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负指数分布排错时间的软件可靠性模型

孙靖 刘晓明

孙靖, 刘晓明. 负指数分布排错时间的软件可靠性模型[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 53-56.
引用本文: 孙靖, 刘晓明. 负指数分布排错时间的软件可靠性模型[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 53-56.
SUN Jing, LIU Xiao-ming. A Software Reliability Model with Exponential Repair Time[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 53-56.
Citation: SUN Jing, LIU Xiao-ming. A Software Reliability Model with Exponential Repair Time[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 53-56.

负指数分布排错时间的软件可靠性模型

详细信息
    作者简介:

    孙靖(1974-),男,博士生,主要从事软件工程与软件可靠性方面的研究;刘晓明(1956-),男,教授,主要从事软件工程与指挥自动化方面的研究.

    孙靖(1974-),男,博士生,主要从事软件工程与软件可靠性方面的研究;刘晓明(1956-),男,教授,主要从事软件工程与指挥自动化方面的研究.

  • 中图分类号: TP391

A Software Reliability Model with Exponential Repair Time

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出版历程
  • 收稿日期:  2003-06-01
  • 刊出日期:  2005-02-15

负指数分布排错时间的软件可靠性模型

    作者简介:

    孙靖(1974-),男,博士生,主要从事软件工程与软件可靠性方面的研究;刘晓明(1956-),男,教授,主要从事软件工程与指挥自动化方面的研究.

    孙靖(1974-),男,博士生,主要从事软件工程与软件可靠性方面的研究;刘晓明(1956-),男,教授,主要从事软件工程与指挥自动化方面的研究.

  • 中图分类号: TP391

摘要: 传统的软件可靠性模型大多假设排除错误的时间忽略不计,基于假设过于苛刻,影响了模型应用的范围和精度。因此在JM模型的基础上,提出了排错时间为负指数分布的软件可靠性模型及本模型的极大似然参数估计方法。通过用马尔可夫过程描述系统的状态,分析了模型的数值求解方法,并讨论了使用在本模型中的失效预测、剩余错误预测和等待排出的错误数预测公式。同时利用实际的工程数据对本模型的应用过程进行了验证。

English Abstract

孙靖, 刘晓明. 负指数分布排错时间的软件可靠性模型[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 53-56.
引用本文: 孙靖, 刘晓明. 负指数分布排错时间的软件可靠性模型[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 53-56.
SUN Jing, LIU Xiao-ming. A Software Reliability Model with Exponential Repair Time[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 53-56.
Citation: SUN Jing, LIU Xiao-ming. A Software Reliability Model with Exponential Repair Time[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 53-56.

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