双参数指数分布异常数据的检验

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

双参数指数分布异常数据的检验

李云飞, 黄继伟, 朱宏

文章导航 > 电子科技大学学报 > 2005 > 34(1): 127-130

李云飞, 黄继伟, 朱宏. 双参数指数分布异常数据的检验[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 127-130.

引用本文:

李云飞, 黄继伟, 朱宏. 双参数指数分布异常数据的检验[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 127-130.

LI Yun-fei, HUANG Ji-wei, ZHU Hong. Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 127-130.

Citation:

LI Yun-fei, HUANG Ji-wei, ZHU Hong. Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 127-130.

双参数指数分布异常数据的检验

1.
电子科技大学应用数学学院成都 610054

作者简介:
李云飞(1980-),男,硕士生,主要从事数理统计方面的研究.

中图分类号: O212.1;O212.7

Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution

1.
School of Applied Mathematics,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 针对双参数指数分布的异常大数据,给出了一种新的检验方法。寻找到总体参数的具有较好稳健性的估计量,并在此基础上构造出检验统计量,求出了该检验统计量精确的概率密度函数和大样本情形下的近似分布,得到了检验临界值简洁的近似表达式。
- 双参数指数分布 /
- 异常数据 /
- 次序统计量 /
- 分位数 /
- 检验统计量
Abstract: In this paper, a method of examination for the upper outliers from the two-parameter exponential distribution is discussed. A new test statistic is given. We derive the accurate density function and the approximate distribution of this test statistic.
- two-parameter exponential distribution /
- outlier /
- order statistic /
- fractile /
- test statistic

[1]	周江平, 周媛媛, 周学军, 聂宁. 相位匹配量子密钥分发协议统计波动分析 . 电子科技大学学报, 2023, 52(2): 168-174. doi: 10.12178/1001-0548.2022096
[2]	谢暄, 王敏夷, 白颖利, 汪东敏, 李西峰, 谢永乐. 基于Rényi熵的q-指数分布及其可靠性分析应用 . 电子科技大学学报, 2021, 50(4): 535-543. doi: 10.12178/1001-0548.2020449
[3]	郭继昌, 李翔鹏. 基于卷积神经网络和密度分布特征的人数统计方法 . 电子科技大学学报, 2018, 47(6): 806-813. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2018.06.002
[4]	王亦雷, 嵇智源, 夏勇, 秦臻, 程红蓉. 移动用户人口统计信息预测 . 电子科技大学学报, 2015, 44(6): 917-920. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.06.021
[5]	杜辉, 李洋, 梁伟正, 高敏, 张胤, 林媛. 化学计量比对BaTiO₃/Ni集成结构性能的影响 . 电子科技大学学报, 2015, 44(5): 784-788. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.05.024
[6]	王莉君, 何政伟, 冯平兴. 基于ICA的异常数据挖掘算法研究 . 电子科技大学学报, 2015, 44(2): 211-214. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.02.009
[7]	张恺, 马忠军, 李科赞. 朋友关系网络的实证统计研究 . 电子科技大学学报, 2014, 43(3): 336-341. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.03.003
[8]	周涛, 韩筱璞, 闫小勇, 杨紫陌, 赵志丹, 汪秉宏. 人类行为时空特性的统计力学 . 电子科技大学学报, 2013, 42(4): 481-540. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.001
[9]	陈庆华, 史定华. 网络统计——复杂网络基础问题: 为标度律提供统计支持 . 电子科技大学学报, 2013, 42(1): 1-2. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.01.001
[10]	闫小勇. 人类个体出行行为的统计实证 . 电子科技大学学报, 2011, 40(2): 168-173. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.02.002
[11]	张利勋, 刘永智, 王康宁. 二阶分布参数系统反射反馈的极点配置 . 电子科技大学学报, 2006, 35(4): 557-559.
[12]	廖平, 杨中海, 廖莉. 毫米波行波管电子光学系统计算机模拟 . 电子科技大学学报, 2005, 34(6): 794-797.
[13]	陈玲, 杨慰民, 徐安玉. 2000-2004年《现代雷达》论文统计分析 . 电子科技大学学报, 2005, 34(6): 869-872.
[14]	孙靖, 刘晓明. 负指数分布排错时间的软件可靠性模型 . 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 53-56.
[15]	张晶炜, 熊伟, 何友. 当前统计概率数据关联算法 . 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 4-7.
[16]	王琪, 阮成礼, 孙益军, 何庆强. 加袖双Koch分形天线的研究 . 电子科技大学学报, 2004, 33(4): 361-363,390.
[17]	陈怀新, 南建设, 肖先赐. 基于统计特征主分量的信号调制识别 . 电子科技大学学报, 2004, 33(3): 231-234,238.
[18]	朱宏, 肖百龙, 徐道义. 指数分布参数基于不完全样本的区间估计 . 电子科技大学学报, 2002, 31(1): 97-101.
[19]	罗艳. 指数分布参数基于不完全数据的区间估计 . 电子科技大学学报, 1998, 27(4): 445-448.
[20]	尹忠科, 杨绍国, 顾德仁. 分形快速高效图像数据压缩 . 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 113-116.

WeChat

点击查看大图

计量

文章访问数: 3547
HTML全文浏览量: 149
PDF下载量: 120
被引次数: 0

双参数指数分布异常数据的检验

1. 电子科技大学应用数学学院成都 610054

作者简介:
李云飞(1980-),男,硕士生,主要从事数理统计方面的研究.

收稿日期: 2004-02-24
刊出日期: 2005-02-15

中图分类号: O212.1;O212.7

关键词:

摘要: 针对双参数指数分布的异常大数据,给出了一种新的检验方法。寻找到总体参数的具有较好稳健性的估计量,并在此基础上构造出检验统计量,求出了该检验统计量精确的概率密度函数和大样本情形下的近似分布,得到了检验临界值简洁的近似表达式。

English Abstract

李云飞, 黄继伟, 朱宏. 双参数指数分布异常数据的检验[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 127-130.

引用本文:

李云飞, 黄继伟, 朱宏. 双参数指数分布异常数据的检验[J]. 电子科技大学学报, 2005, 34(1): 127-130.

LI Yun-fei, HUANG Ji-wei, ZHU Hong. Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 127-130.

Citation:

LI Yun-fei, HUANG Ji-wei, ZHU Hong. Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(1): 127-130.

全文HTML

/

下载: 全尺寸图片幻灯片

分享

用微信扫码二维码

分享至好友和朋友圈

返回

期刊在线

编辑办公

友情链接

电子科技大学

版权所有 © 《电子科技大学学报》编辑部

地址: 成都市建设北路二段四号电子科技大学主楼中350室电话: 028-83202308,83207559 Email: xuebao@uestc.edu.cn

本系统由北京仁和汇智信息技术有限公司开发