VLSI测试中移相伪随机序列的设计

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VLSI测试中移相伪随机序列的设计

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刘勇. VLSI测试中移相伪随机序列的设计[J]. 电子科技大学学报, 2002, 31(6): 608-611.

引用本文:

刘勇. VLSI测试中移相伪随机序列的设计[J]. 电子科技大学学报, 2002, 31(6): 608-611.

Liu Yong. Design of Pseudorandom Sequences with Phase Shifts for VLSI Test[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2002, 31(6): 608-611.

Citation:

Liu Yong. Design of Pseudorandom Sequences with Phase Shifts for VLSI Test[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2002, 31(6): 608-611.

VLSI测试中移相伪随机序列的设计

刘勇

1.
成都电子机械高等专科学校计算机工程系成都 610031

作者简介:
刘勇男 41岁大学讲师

中图分类号: TP331

Design of Pseudorandom Sequences with Phase Shifts for VLSI Test

Liu Yong

1.
Dept. of Computer Engineering,Chengdu Electro-Mechanical College Chengdu 610031

摘要: 为了用较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖,提出了一种数字集成电路测试中多扫描链的配置方法。该方法基于最大周期的线性反馈移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性,可使较短长度的LFSR驱动多个扫描链;为了减小LFSR生成序列的互相关性,利用LFSR与其对偶LFSR间的关系,提出了基于逻辑仿真的移相器的快速设计方法,实验结果验证了该方法的有效性,对VLSI的内测试和外测试皆适用。
- 线性反馈移位寄存器 /
- 移相器 /
- m序列 /
- 移位可加性 /
- 伪随机测试
Abstract: This paper aims at achieving higher fault coverage for circuits under test with less hardware overhead and time consumption. One Configuration approach of multiple scan chain is presented based on the shift-and-add property of m sequence generated by Linear Feedback Shift Register (LFSR) with maxium sequence length, it enables LFSR with shorter size to drive multiple scan chains. In order to alleviate correlation between the bit streams of LFSR, a fast design meathod is presented also based on logic stimulation. Experiment results prove the effectivness of this approach, it can be used both to internal test and external test of VLSI.
- linear feedback shift register /
- phase shifter /
- m sequence /
- shift-and-add property /
- pseudorandom test

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VLSI测试中移相伪随机序列的设计

刘勇

1. 成都电子机械高等专科学校计算机工程系成都 610031

作者简介:
刘勇男 41岁大学讲师

收稿日期: 2002-07-19
刊出日期: 2002-12-15

中图分类号: TP331

关键词:

摘要: 为了用较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖,提出了一种数字集成电路测试中多扫描链的配置方法。该方法基于最大周期的线性反馈移位寄存器LFSR生成的m序列的移位可加性,可使较短长度的LFSR驱动多个扫描链;为了减小LFSR生成序列的互相关性,利用LFSR与其对偶LFSR间的关系,提出了基于逻辑仿真的移相器的快速设计方法,实验结果验证了该方法的有效性,对VLSI的内测试和外测试皆适用。

English Abstract

刘勇. VLSI测试中移相伪随机序列的设计[J]. 电子科技大学学报, 2002, 31(6): 608-611.

引用本文:

刘勇. VLSI测试中移相伪随机序列的设计[J]. 电子科技大学学报, 2002, 31(6): 608-611.

Liu Yong. Design of Pseudorandom Sequences with Phase Shifts for VLSI Test[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2002, 31(6): 608-611.

Citation:

Liu Yong. Design of Pseudorandom Sequences with Phase Shifts for VLSI Test[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2002, 31(6): 608-611.

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