XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用

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XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用

杨成韬, 张鹰, 李言荣

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杨成韬, 张鹰, 李言荣. XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(2): 129-133.

引用本文:

杨成韬, 张鹰, 李言荣. XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(2): 129-133.

Yang Chengtao, Zhang Ying, Li Yanrong. Application of XPS Spectra in Analysis of MO Medium Reliability[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(2): 129-133.

Citation:

Yang Chengtao, Zhang Ying, Li Yanrong. Application of XPS Spectra in Analysis of MO Medium Reliability[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(2): 129-133.

XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用

1.
电子科技大学光电记录技术中心成都 610054

基金项目:

国家"九五"重点科技攻关项目

作者简介:
杨成韬男 35岁在职博士生副教授

中图分类号: O653

Application of XPS Spectra in Analysis of MO Medium Reliability

1.
Center of Opto-electronic Recording Technology,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 通过对单层结构和多层结构的磁光记录介质TbFeCo在常温环境气氛条件和高温加速应力条件下的可靠性对比实验,以及对组成元素的XPS光电子能谱分析,证明了只有经过多层结构保护处理的磁光记录介质才具有高的稳定性。
- 磁光介质 /
- 多层膜 /
- 可靠性 /
- XPS能谱
Abstract: By contrastive experimental analyzing of the single layer film and multilayer film of magneto-optical recording medium TbFeCo in room and high temperature condition, it is proved that the magneto-optical medium has high stability by adopting multilayer film structure. the XPS analysis of element of TbFeCo also proves the conclusion.
- magneto-optical media /
- multilayer film /
- reliability /
- XPS spectra

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[4]	韩继光, 何成文, 郭永环, 张亮. SnAgCu-nano Al钎料Anand本构关系及焊点可靠性 . 电子科技大学学报, 2015, 44(3): 471-474. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.027
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XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用

1. 电子科技大学光电记录技术中心成都 610054

基金项目:

国家"九五"重点科技攻关项目

作者简介:
杨成韬男 35岁在职博士生副教授

收稿日期: 2000-07-19
刊出日期: 2001-04-15

中图分类号: O653

关键词:

摘要: 通过对单层结构和多层结构的磁光记录介质TbFeCo在常温环境气氛条件和高温加速应力条件下的可靠性对比实验,以及对组成元素的XPS光电子能谱分析,证明了只有经过多层结构保护处理的磁光记录介质才具有高的稳定性。

English Abstract

杨成韬, 张鹰, 李言荣. XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(2): 129-133.

引用本文:

杨成韬, 张鹰, 李言荣. XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(2): 129-133.

Yang Chengtao, Zhang Ying, Li Yanrong. Application of XPS Spectra in Analysis of MO Medium Reliability[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(2): 129-133.

Citation:

Yang Chengtao, Zhang Ying, Li Yanrong. Application of XPS Spectra in Analysis of MO Medium Reliability[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(2): 129-133.

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