热打印头的失效机理与寿命分析

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热打印头的失效机理与寿命分析

张生才, 申云琴, 姚素英

文章导航 > 电子科技大学学报 > 2001 > 30(2): 181-184

张生才, 申云琴, 姚素英. 热打印头的失效机理与寿命分析[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(2): 181-184.

引用本文:

张生才, 申云琴, 姚素英. 热打印头的失效机理与寿命分析[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(2): 181-184.

Zhang Shengcai, Shen Yunqin, Yao Suying. Degradation Causes and Life Estimation of Thermal Printing Heads[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(2): 181-184.

Citation:

Zhang Shengcai, Shen Yunqin, Yao Suying. Degradation Causes and Life Estimation of Thermal Printing Heads[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(2): 181-184.

热打印头的失效机理与寿命分析

1.
天津大学电子信息工程学院天津 300072

基金项目:

国家重点科技公关项目

作者简介:
张生才男 54岁大学副教授

中图分类号: TM241.2;TP202.1

Degradation Causes and Life Estimation of Thermal Printing Heads

1.
School of Electronic Information Engineering,Tianjin University Tianjin 300072

摘要: 在对热印头进行高温存储实验、震动实验、脉冲加热实验和实际打印实验的基础上,总结出热印头失效的五种模式,并分析了各种模式的失效原因;论述了提高热印头寿命的措施。
- 薄膜热印头 /
- 热打印机 /
- 失效机理 /
- 寿命
Abstract: Long lifetime is a base for thermal printing heads to be applied widely. Experiments on these thermal printing heads include high temperature storage tests, shaking tests, pulse-heat tests, and actual thermal printing tests. From the experiments, five degradation modes of thermal printing heads are summarized. The degradation reasons for the five modes are analyzed and the means of increasing the lifetime of thermal printing heads are demonstrated.
- thin film thermal printing head /
- thermal printers /
- degradation causes /
- lifetime

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[4]	安宗文, 张宇, 刘波. 风电齿轮箱零件寿命分布函数的确定方法 . 电子科技大学学报, 2014, 43(6): 950-954. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.06.027
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热打印头的失效机理与寿命分析

1. 天津大学电子信息工程学院天津 300072

基金项目:

国家重点科技公关项目

作者简介:
张生才男 54岁大学副教授

收稿日期: 2000-08-28
刊出日期: 2001-04-15

中图分类号: TM241.2;TP202.1

关键词:

摘要: 在对热印头进行高温存储实验、震动实验、脉冲加热实验和实际打印实验的基础上,总结出热印头失效的五种模式,并分析了各种模式的失效原因;论述了提高热印头寿命的措施。

English Abstract

张生才, 申云琴, 姚素英. 热打印头的失效机理与寿命分析[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(2): 181-184.

引用本文:

张生才, 申云琴, 姚素英. 热打印头的失效机理与寿命分析[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(2): 181-184.

Zhang Shengcai, Shen Yunqin, Yao Suying. Degradation Causes and Life Estimation of Thermal Printing Heads[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(2): 181-184.

Citation:

Zhang Shengcai, Shen Yunqin, Yao Suying. Degradation Causes and Life Estimation of Thermal Printing Heads[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(2): 181-184.

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