高温超导薄膜微波表面电阻测试方法

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高温超导薄膜微波表面电阻测试方法

张映敏, 罗正祥, 羊恺, 张其劭

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张映敏, 罗正祥, 羊恺, 张其劭. 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(6): 633-637.

引用本文:

张映敏, 罗正祥, 羊恺, 张其劭. 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(6): 633-637.

Zhang Yingmin, Luo Zhengxiang, Yang Kai, Zhang Qishao. A Measurement Method of Microwave Surface Resistance of Large Area High Tc Super-conductive Thin Films[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(6): 633-637.

Citation:

Zhang Yingmin, Luo Zhengxiang, Yang Kai, Zhang Qishao. A Measurement Method of Microwave Surface Resistance of Large Area High Tc Super-conductive Thin Films[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(6): 633-637.

高温超导薄膜微波表面电阻测试方法

1.
电子科技大学微波测试中心成都 610054

基金项目:

国家超导中心研究基金资助项目

作者简介:
张映敏女 24岁博士生

中图分类号: TM26;O514.2

A Measurement Method of Microwave Surface Resistance of Large Area High Tc Super-conductive Thin Films

1.
Microwave Testing Center,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 介绍一种工作在12 GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻Rs测试系统,该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,在77 K时,利用它对高温超导薄膜的微波表面电阻Rs进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于单片φ 50.8 mm较大超导薄膜的无损伤测试,整个测试系统体积小、操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,具有简便、快捷、适合于工业化生产检测的特点。
- 高温超导薄膜 /
- 微波表面电阻 /
- 介质谐振器 /
- 品质因数
Abstract: The surface resistance Rs of a single piece of high Tc super-conductive thin film can be measured by a sapphire resonator with TE011+δ mode non-destructivity, at 77 K. By measuring the value of the resonator's quality factor, the microwave surface resistance Rs of testing sample can be also determined. A new measuring method is presented, and the surface resistance can be calculated. To measure Ô50.8mm high Tc super-conductive thin film, a special sapphire resonator working at 12GHz is made and used. The method has advantages of non-destructivity, single sample, high Q value, high sensitivity, convenient experiment setup, small volume, and flexibility in operation.
- high Tc super-conductive /
- microwave surface resistance /
- sapphire resonator /
- quality factor

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高温超导薄膜微波表面电阻测试方法

1. 电子科技大学微波测试中心成都 610054

基金项目:

国家超导中心研究基金资助项目

作者简介:
张映敏女 24岁博士生

收稿日期: 2001-09-07
刊出日期: 2001-12-15

中图分类号: TM26;O514.2

关键词:

摘要: 介绍一种工作在12 GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻Rs测试系统,该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,在77 K时,利用它对高温超导薄膜的微波表面电阻Rs进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于单片φ 50.8 mm较大超导薄膜的无损伤测试,整个测试系统体积小、操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,具有简便、快捷、适合于工业化生产检测的特点。

English Abstract

张映敏, 罗正祥, 羊恺, 张其劭. 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(6): 633-637.

引用本文:

张映敏, 罗正祥, 羊恺, 张其劭. 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法[J]. 电子科技大学学报, 2001, 30(6): 633-637.

Zhang Yingmin, Luo Zhengxiang, Yang Kai, Zhang Qishao. A Measurement Method of Microwave Surface Resistance of Large Area High Tc Super-conductive Thin Films[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(6): 633-637.

Citation:

Zhang Yingmin, Luo Zhengxiang, Yang Kai, Zhang Qishao. A Measurement Method of Microwave Surface Resistance of Large Area High Tc Super-conductive Thin Films[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(6): 633-637.

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