一种预测磁光盘可靠寿命的方法

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一种预测磁光盘可靠寿命的方法

姜书艳, 刘素环

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姜书艳, 刘素环. 一种预测磁光盘可靠寿命的方法[J]. 电子科技大学学报, 2000, 29(2): 182-185.

引用本文:

姜书艳, 刘素环. 一种预测磁光盘可靠寿命的方法[J]. 电子科技大学学报, 2000, 29(2): 182-185.

Jiang Shuyan, Liu Suhuan. A Way of Calculating Reliable Service Life of MO Disks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2000, 29(2): 182-185.

Citation:

Jiang Shuyan, Liu Suhuan. A Way of Calculating Reliable Service Life of MO Disks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2000, 29(2): 182-185.

一种预测磁光盘可靠寿命的方法

1.
电子科技大学自动化系成都 610054

基金项目:

国家科委火炬重点项目

作者简介:
姜书艳女 30岁硕士讲师

中图分类号: TN247

A Way of Calculating Reliable Service Life of MO Disks

1.
Dept. of Automation,UEST of China Chenghu 610054

摘要: 提出了利用威布尔分布参数的图分析法预测磁光盘可靠寿命的方法,克服了以往仅针对单一或特定结构的分析,将磁光盘作为一个系统来综合考察,以误码率作为磁光盘的失效判据,通过对磁光盘两个温度点的高温恒定应力加速寿命试验结果的分析,计算出了磁光盘在25℃正常大气条件下的可靠寿命。
- 磁光盘 /
- 加速寿命测试 /
- 威布尔分布 /
- 可靠性
Abstract: This paper presents a method of calculating the reliable service life of magneto-optic disks by way of analyzing figures of weibull parameters,which overcome the analysis of only one or definite construction of MO disks before. In this method, MO disk is considered as a whole system and the invalid of BER is taken into account. The reliable service life of MO disks is calculated at normal atmosphere by means of analyzing the experiments result which is concluded by acceleration experiments of high temperature.
- magneto-optic disks /
- acceleration aging test /
- weibull distribution /
- reliability

[1]	黄洪钟, 蔡吴斌, 杨圆鉴, 周宏明, 邓智铭, 黄土地. 动车组轴承及其可靠性研究进展 . 电子科技大学学报, 2023, 52(3): 458-474. doi: 10.12178/1001-0548.2022216
[2]	孙晓璇, 吴晔, 冯鑫, 肖井华. 高铁-普铁的实证双层网络结构与鲁棒性分析 . 电子科技大学学报, 2019, 48(2): 315-320. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2019.02.024
[3]	杨燕, 王滨, 李翠, 何雨莲. 高可靠性OTP存储控制器 . 电子科技大学学报, 2019, 48(5): 722-727. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2019.05.010
[4]	韩继光, 何成文, 郭永环, 张亮. SnAgCu-nano Al钎料Anand本构关系及焊点可靠性 . 电子科技大学学报, 2015, 44(3): 471-474. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.027
[5]	覃庆努, 魏学业, 吴小进, 白如雪. 负载均担并联系统模型及可靠性分析 . 电子科技大学学报, 2013, 42(2): 311-315. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.02.025
[6]	张旭东, 黄洪钟, XIE Min. 单环法求解基于可靠性的设计优化问题 . 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 157-160. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.030
[7]	邹见效, 徐红兵, 张正迁. 基于三重冗余的ETS控制系统设计及可靠性评估 . 电子科技大学学报, 2010, 39(5): 793-799. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.030
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[20]	荆玉兰, 姜书艳. 光盘的可靠性试验 . 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 162-166.

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一种预测磁光盘可靠寿命的方法

1. 电子科技大学自动化系成都 610054

基金项目:

国家科委火炬重点项目

作者简介:
姜书艳女 30岁硕士讲师

收稿日期: 1999-11-02
刊出日期: 2000-04-15

中图分类号: TN247

关键词:

摘要: 提出了利用威布尔分布参数的图分析法预测磁光盘可靠寿命的方法,克服了以往仅针对单一或特定结构的分析,将磁光盘作为一个系统来综合考察,以误码率作为磁光盘的失效判据,通过对磁光盘两个温度点的高温恒定应力加速寿命试验结果的分析,计算出了磁光盘在25℃正常大气条件下的可靠寿命。

English Abstract

姜书艳, 刘素环. 一种预测磁光盘可靠寿命的方法[J]. 电子科技大学学报, 2000, 29(2): 182-185.

引用本文:

姜书艳, 刘素环. 一种预测磁光盘可靠寿命的方法[J]. 电子科技大学学报, 2000, 29(2): 182-185.

Jiang Shuyan, Liu Suhuan. A Way of Calculating Reliable Service Life of MO Disks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2000, 29(2): 182-185.

Citation:

Jiang Shuyan, Liu Suhuan. A Way of Calculating Reliable Service Life of MO Disks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2000, 29(2): 182-185.

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