面向时滞测试生成的改进遗传算法

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面向时滞测试生成的改进遗传算法

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王勇, 陈光. 面向时滞测试生成的改进遗传算法[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(2): 157-161.

引用本文:

王勇, 陈光. 面向时滞测试生成的改进遗传算法[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(2): 157-161.

Wang Yong, Chen Guangiu. An Improved Genetic Algorithm for Delay-fault Test Generation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(2): 157-161.

Citation:

Wang Yong, Chen Guangiu. An Improved Genetic Algorithm for Delay-fault Test Generation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(2): 157-161.

面向时滞测试生成的改进遗传算法

王勇,
陈光

1.
成都电子科技大学CAT室成都 610054

基金项目:

电子部预研基金

作者简介:
王勇男 32岁博士生

中图分类号: TN407

An Improved Genetic Algorithm for Delay-fault Test Generation

1.
CAT Lab.,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 在提出的无冒险的时滞测试能量函数的基础上,对传统的遗传算法进行了改进,即在搜索中根据进化程度对群体尺寸进行调整来加速收敛,用于时滞测试生成。实验证明该方法是一种较有发展前途的算法。
- 时滞故障 /
- 测试生成 /
- 能量函数 /
- 遗传算法
Abstract: In this paper,the energy functions for hazard-free delay testing are presented, thus the problem of RRT (restricted robust test) generation for delay faults becomes an energy minimization problem. An improved genetic algorithm for RRT generation is given. This algorithm can inhibit premature convergence by modifying the population size with the degree of the evolution. The experiment shows that this method is effective.
- delay fault /
- test pattern generation /
- energy function /
- genetic algorithm

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面向时滞测试生成的改进遗传算法

王勇,
陈光

1. 成都电子科技大学CAT室成都 610054

基金项目:

电子部预研基金

作者简介:
王勇男 32岁博士生

收稿日期: 1998-12-30
刊出日期: 1999-04-15

中图分类号: TN407

关键词:

摘要: 在提出的无冒险的时滞测试能量函数的基础上,对传统的遗传算法进行了改进,即在搜索中根据进化程度对群体尺寸进行调整来加速收敛,用于时滞测试生成。实验证明该方法是一种较有发展前途的算法。

English Abstract

王勇, 陈光. 面向时滞测试生成的改进遗传算法[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(2): 157-161.

引用本文:

王勇, 陈光. 面向时滞测试生成的改进遗传算法[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(2): 157-161.

Wang Yong, Chen Guangiu. An Improved Genetic Algorithm for Delay-fault Test Generation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(2): 157-161.

Citation:

Wang Yong, Chen Guangiu. An Improved Genetic Algorithm for Delay-fault Test Generation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(2): 157-161.

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