留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

Si1-xGex/Si材料外延生长技术

杨沛锋 李开成 刘道广

杨沛锋, 李开成, 刘道广. Si1-xGex/Si材料外延生长技术[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 490-493.
引用本文: 杨沛锋, 李开成, 刘道广. Si1-xGex/Si材料外延生长技术[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 490-493.
Yang Peifeng, Li Kaicheng, Liu Daoguang. A Epitaxial Technology for Si1-xGex/Si Materials[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 490-493.
Citation: Yang Peifeng, Li Kaicheng, Liu Daoguang. A Epitaxial Technology for Si1-xGex/Si Materials[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 490-493.

Si1-xGex/Si材料外延生长技术

基金项目: 

国防科工委预研基金

详细信息
    作者简介:

    杨沛锋 男 27岁 博士生

  • 中图分类号: TN304.054

A Epitaxial Technology for Si1-xGex/Si Materials

计量
  • 文章访问数:  3387
  • HTML全文浏览量:  136
  • PDF下载量:  71
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1998-12-17
  • 刊出日期:  1999-10-15

Si1-xGex/Si材料外延生长技术

    基金项目:

    国防科工委预研基金

    作者简介:

    杨沛锋 男 27岁 博士生

  • 中图分类号: TN304.054

摘要: 介绍了用MBE法生长SiGe/Si新材料的无氧外延表面等关键技术,并据此外延生长出本征和掺杂Si1-xGex/Si材料。其测试结果与分析表明,该合金材料有效组成成分(x=0.15)和电学参数符合理论设计目标。利用该材料试制成功了1-xGex-PMOS (x=0.18)器件。

English Abstract

杨沛锋, 李开成, 刘道广. Si1-xGex/Si材料外延生长技术[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 490-493.
引用本文: 杨沛锋, 李开成, 刘道广. Si1-xGex/Si材料外延生长技术[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 490-493.
Yang Peifeng, Li Kaicheng, Liu Daoguang. A Epitaxial Technology for Si1-xGex/Si Materials[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 490-493.
Citation: Yang Peifeng, Li Kaicheng, Liu Daoguang. A Epitaxial Technology for Si1-xGex/Si Materials[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 490-493.

目录

    /

    返回文章
    返回