留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

InSb薄膜的真空蒸发及磁敏霍尔元件的制作

胡明 刘志刚 张之圣 王文生

胡明, 刘志刚, 张之圣, 王文生. InSb薄膜的真空蒸发及磁敏霍尔元件的制作[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 498-501.
引用本文: 胡明, 刘志刚, 张之圣, 王文生. InSb薄膜的真空蒸发及磁敏霍尔元件的制作[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 498-501.
Hu Ming, Liu Zhigang, Zhang Zhisheng, Wang Wensheng. Preparation of InSb Thin Films by Vacuum Evaporation and Fabrication of Hall Element[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 498-501.
Citation: Hu Ming, Liu Zhigang, Zhang Zhisheng, Wang Wensheng. Preparation of InSb Thin Films by Vacuum Evaporation and Fabrication of Hall Element[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 498-501.

InSb薄膜的真空蒸发及磁敏霍尔元件的制作

基金项目: 

天津市科学基金

详细信息
    作者简介:

    胡明 女 48岁 硕士 副教授

  • 中图分类号: TN382,TN305.8

Preparation of InSb Thin Films by Vacuum Evaporation and Fabrication of Hall Element

计量
  • 文章访问数:  3465
  • HTML全文浏览量:  127
  • PDF下载量:  76
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1998-12-14
  • 刊出日期:  1999-10-15

InSb薄膜的真空蒸发及磁敏霍尔元件的制作

    基金项目:

    天津市科学基金

    作者简介:

    胡明 女 48岁 硕士 副教授

  • 中图分类号: TN382,TN305.8

摘要: 利用单源真空蒸发方法制备InSb薄膜。研究了基片温度控制和膜层厚度对薄膜电子迁移率的影响。室温下测得InSb薄膜的电子迁移率为4×104cm2/V.s,晶粒尺寸达微米数量级。制作的磁敏霍尔元件输入与输出电阻范围为200~500Ω,乘积灵敏度达90~150V/A·T。

English Abstract

胡明, 刘志刚, 张之圣, 王文生. InSb薄膜的真空蒸发及磁敏霍尔元件的制作[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 498-501.
引用本文: 胡明, 刘志刚, 张之圣, 王文生. InSb薄膜的真空蒸发及磁敏霍尔元件的制作[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 498-501.
Hu Ming, Liu Zhigang, Zhang Zhisheng, Wang Wensheng. Preparation of InSb Thin Films by Vacuum Evaporation and Fabrication of Hall Element[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 498-501.
Citation: Hu Ming, Liu Zhigang, Zhang Zhisheng, Wang Wensheng. Preparation of InSb Thin Films by Vacuum Evaporation and Fabrication of Hall Element[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 498-501.

目录

    /

    返回文章
    返回