可达树分析法及其在测试中的应用

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可达树分析法及其在测试中的应用

曾成碧, 陈光

文章导航 > 电子科技大学学报 > 1999 > 28(5): 524-526

曾成碧, 陈光. 可达树分析法及其在测试中的应用[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 524-526.

引用本文:

曾成碧, 陈光. 可达树分析法及其在测试中的应用[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 524-526.

Zeng Chengbi, Chen Guangju. Reachability Tree Method and Its Application to Fault Diagnosis for Digital Circuits[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 524-526.

Citation:

Zeng Chengbi, Chen Guangju. Reachability Tree Method and Its Application to Fault Diagnosis for Digital Circuits[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 524-526.

可达树分析法及其在测试中的应用

曾成碧¹,
陈光²

1.
四川大学电气信息学院成都 660065;
2.
电子科技大学CAT室成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科技攻关项目

作者简介:
曾成碧女 28岁博士讲师

中图分类号: TN707

Reachability Tree Method and Its Application to Fault Diagnosis for Digital Circuits

Zeng Chengbi¹,
Chen Guangju²

1.
Colleage of Electric and Information,Sichuan University Chengdu 610065;
2.
CAT Lab. Dept. of Automation,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 介绍了数字电路故障诊断的Petri网模型和Petri网的分析方法之一——可达树分析法。该方法应适用于各种Petri网,但由于状态空间的复杂,其限适用于较小Petri网。并研究了可达树分析法在数字电路故障测试中的应用。
- Petri网 /
- 可达树 /
- 故障诊断 /
- 数字电路
Abstract: In this paper, a fault pattern for digital circuits is presented via Petri nets.This paper introduces one of methods of analysis for Petri net the reachability tree method.It can be applied to all classes nets, but is limited to "small" nets due to the complexity of the state space explosion. This work find a reachability tree method is used to solve diagnosis fault of digital circuits.
- petri net /
- reachability tree /
- fault diagnosis /
- digital circuits

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[2]	周启忠, 谢永乐, 毕东杰, 李西峰. 种模拟电路参数型故障诊断新方法 . 电子科技大学学报, 2017, 46(2): 386-391. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2017.02.012
[3]	闫涛, 赵文俊, 胡秀洁, 宋家友. 基于信息融合技术的航空电子设备故障诊断研究 . 电子科技大学学报, 2015, 44(3): 392-395. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.013
[4]	高昕, 王厚军, 刘震. 线性模拟电路软故障建模与诊断策略 . 电子科技大学学报, 2015, 44(3): 497-402. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.014
[5]	郑长友, 刘晓明, 姚奕, 任正平. 基于Petri网的面向测试的工作流系统建模方法 . 电子科技大学学报, 2014, 43(1): 119-124. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.01.020
[6]	李旻, 咸卫明, 龙兵, 王厚军. 基于特征优选模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
[7]	汤志伟, 殷静. 基于扩展Petri网的仿真建模与分析 . 电子科技大学学报, 2012, 41(1): 131-135. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.01.025
[8]	宋国明, 王厚军, 姜书艳, 刘红. 最小生成树SVM的模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2012, 41(3): 412-417. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.03.018
[9]	叶笠, 王厚军, 叶芃, 田书林. 容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法 . 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
[10]	张健, 徐红兵, 王情. 多重分形谱在集成电路动态电流故障诊断中的应用 . 电子科技大学学报, 2011, 40(4): 544-548.
[11]	孙永奎, 陈光礻禹, 李辉. 灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
[12]	陈世杰, 连可, 王厚军. 遗传算法优化的SVM模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(4): 553-558. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.04.019
[13]	雷霖, 代传龙, 王厚军, 赵旭. 粗糙集-神经网络集成的WSN节点故障诊断 . 电子科技大学学报, 2008, 37(4): 565-568.
[14]	杨俊华, 尚志恩, 吕锋. 基于布尔差分的数字逻辑电路故障诊断 . 电子科技大学学报, 2005, 34(4): 517-520.
[15]	虞红芳, 詹柔莹, 李乐民. 一种启发式的计算机局域网故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2002, 31(2): 151-155.
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[19]	王厚军, 陈相富, 陈光. 基于总线观测的微机故障诊断专家系统研究 . 电子科技大学学报, 1998, 27(2): 161-165.
[20]	潘中良, 陈光. 模拟电路故障诊断的神经网络专家系统方法 . 电子科技大学学报, 1997, 26(4): 405-408.

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可达树分析法及其在测试中的应用

曾成碧¹,
陈光²

1. 四川大学电气信息学院成都 660065;

2. 电子科技大学CAT室成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科技攻关项目

作者简介:
曾成碧女 28岁博士讲师

收稿日期: 1998-11-25
刊出日期: 1999-10-15

中图分类号: TN707

关键词:

摘要: 介绍了数字电路故障诊断的Petri网模型和Petri网的分析方法之一——可达树分析法。该方法应适用于各种Petri网,但由于状态空间的复杂,其限适用于较小Petri网。并研究了可达树分析法在数字电路故障测试中的应用。

English Abstract

曾成碧, 陈光. 可达树分析法及其在测试中的应用[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 524-526.

引用本文:

曾成碧, 陈光. 可达树分析法及其在测试中的应用[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 524-526.

Zeng Chengbi, Chen Guangju. Reachability Tree Method and Its Application to Fault Diagnosis for Digital Circuits[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 524-526.

Citation:

Zeng Chengbi, Chen Guangju. Reachability Tree Method and Its Application to Fault Diagnosis for Digital Circuits[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(5): 524-526.

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