窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究

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窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究

黎海涛, 杨亚培, 邓兴成

文章导航 > 电子科技大学学报 > 1998 > 27(5): 494-501

黎海涛, 杨亚培, 邓兴成. 窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(5): 494-501.

引用本文:

黎海涛, 杨亚培, 邓兴成. 窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(5): 494-501.

Li Haitao, Yang Yapei, Deng Xingcheng. Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(5): 494-501.

Citation:

Li Haitao, Yang Yapei, Deng Xingcheng. Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(5): 494-501.

窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究

1.
电子科技大学电子技术系,光电子技术系,应用物理所成都 610054

基金项目:

国防科研基金资助项目

作者简介:
黎海涛男 25岁硕士生

中图分类号: TN248.4;TN935.1

Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser

1.
Dept of Elect Tech,Dept of Opto-Elect Tech,Inst of Applied Physics,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 提出一种新颖的窄线宽半导体激光器测试技术-延迟光纤干涉法。利用部分相干光理论推出延迟光纤干涉的计算公式,通过模拟计算,总结出采用这种技术的测试方法,建立了实验系统,对实验结果进行数据分析,证明了这种新的测试技术方案是正确可行的。
- 光纤 /
- 干涉 /
- 窄线宽 /
- 半导体激光器
Abstract: By analyzing the delayed self-heterodyne method and investigating partial coherent theory, a novel technique delayed optical fiber interferometer is proposed This paper also deduces the formula describing the measurement of spectral linewidth of semiconductor laser width delayed optical fiber interferometer, which is demonstrated by simultaneous computation and experimental results.
- measurement /
- opticalfiber /
- interferometer /
- narrow-linewidth

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[2]	赵斌兴, 王亚非, 高椿明, 孙启明. 基于激光干涉测振技术的压电陶瓷蜂鸣片质量监控 . 电子科技大学学报, 2015, 44(3): 451-455. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.023
[3]	饶云江, 陈一槐, 吴宇, 邓强. 微光纤环形谐振腔温度传感器 . 电子科技大学学报, 2012, 41(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.03.011
[4]	饶云江, 郭宇, 龚元. 基于腐蚀硼锗共掺光纤的自闭合光纤法-珀传感器 . 电子科技大学学报, 2012, 41(2): 227-231. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.011
[5]	周秀云, 张涛, 程玉华. 高精度高测速双纵模热稳频激光干涉仪研究 . 电子科技大学学报, 2009, 38(3): 451-454. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.03.032
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窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究

1. 电子科技大学电子技术系,光电子技术系,应用物理所成都 610054

基金项目:

国防科研基金资助项目

作者简介:
黎海涛男 25岁硕士生

收稿日期: 1998-08-05
刊出日期: 1998-10-15

中图分类号: TN248.4;TN935.1

关键词:

摘要: 提出一种新颖的窄线宽半导体激光器测试技术-延迟光纤干涉法。利用部分相干光理论推出延迟光纤干涉的计算公式,通过模拟计算,总结出采用这种技术的测试方法,建立了实验系统,对实验结果进行数据分析,证明了这种新的测试技术方案是正确可行的。

English Abstract

黎海涛, 杨亚培, 邓兴成. 窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(5): 494-501.

引用本文:

黎海涛, 杨亚培, 邓兴成. 窄线宽半导体激光器谱宽测试技术研究[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(5): 494-501.

Li Haitao, Yang Yapei, Deng Xingcheng. Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(5): 494-501.

Citation:

Li Haitao, Yang Yapei, Deng Xingcheng. Research of Linewidth Measurement of Narrow Linewidth Semiconductor Laser[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(5): 494-501.

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