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光盘的可靠性试验

荆玉兰 姜书艳

荆玉兰, 姜书艳. 光盘的可靠性试验[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 162-166.
引用本文: 荆玉兰, 姜书艳. 光盘的可靠性试验[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 162-166.
Jing Yulan, Jiang Shuyan. Reliability of Optic Disks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 162-166.
Citation: Jing Yulan, Jiang Shuyan. Reliability of Optic Disks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 162-166.

光盘的可靠性试验

详细信息
    作者简介:

    荆玉兰 女 37岁 大学 工程师

  • 中图分类号: TN247

Reliability of Optic Disks

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出版历程
  • 收稿日期:  1995-12-09
  • 修回日期:  1997-01-09
  • 刊出日期:  1997-04-15

光盘的可靠性试验

    作者简介:

    荆玉兰 女 37岁 大学 工程师

  • 中图分类号: TN247

摘要: 利用加速试验和Arrhenius图方法,预测光盘的寿命,估算出常温下光盘的寿命为20年,通过环境试验对光盘的力学特性和记录特性进行了测试,试验结果表明,各种环境试验有的对光盘的力学特性有轻微影响,有的在记录特性如记录层的反射率、BER上有轻微变化。通过分析磁光盘磁光记录层的衬底及保护层的特性及失效机理,提出了提高磁光盘可靠性的途径。文中从寿命预测和环境试验讨论了光盘的可靠性,对磁光盘的失效机理进行了初步探讨。

English Abstract

荆玉兰, 姜书艳. 光盘的可靠性试验[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 162-166.
引用本文: 荆玉兰, 姜书艳. 光盘的可靠性试验[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 162-166.
Jing Yulan, Jiang Shuyan. Reliability of Optic Disks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 162-166.
Citation: Jing Yulan, Jiang Shuyan. Reliability of Optic Disks[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 162-166.

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