基于自由二元判决图转换的可测性优化方法

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基于自由二元判决图转换的可测性优化方法

章小兵, 王勇, 陈光

文章导航 > 电子科技大学学报 > 1997 > 26(2): 171-174

章小兵, 王勇, 陈光. 基于自由二元判决图转换的可测性优化方法[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 171-174.

引用本文:

章小兵, 王勇, 陈光. 基于自由二元判决图转换的可测性优化方法[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 171-174.

Zhang Xiaobing, Wang Yong, Cheng Guangju. Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 171-174.

Citation:

Zhang Xiaobing, Wang Yong, Cheng Guangju. Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 171-174.

基于自由二元判决图转换的可测性优化方法

1.
电子科技大学CAT研究室成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科研项目

作者简介:
章小兵男 26岁博士生

中图分类号: TN407

Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation

1.
CAT Research Lab.,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 提出了一种基于自由二元判决图转换的可测性优化方法。该方法首先将电路转化为FB-DD表达形式,然后用切换单元来替换FBDD中的节点,以形成易测的多级网络,再通过冗余的认定和消除来达到可测性逻辑优化的目的。与以前的可测性设计方法相比,这种方法适用于任意电路,特别是规模较大、不能用两级逻辑表达的电路。
- 可测性 /
- 优化 /
- 冗余消除 /
- 自由二元判决图
Abstract: This paper presents a testability optimization method based on free binary decision diagram transformation.In this method,circuit is first converted to FBDD representation,then converted to easily testable multi-level network by replacing BDD nodes with multiplexors,and finally converted to testable circuit by redundancy removal.The method's advantage over the classical ones is that it is suitable for almost arbitrary circuits,especially very large scale circuits that can not be represented by two-level logic.
- testability /
- logic optimization /
- redundancy removal /
- free binary decision diagram

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基于自由二元判决图转换的可测性优化方法

1. 电子科技大学CAT研究室成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科研项目

作者简介:
章小兵男 26岁博士生

收稿日期: 1996-06-05
刊出日期: 1997-04-15

中图分类号: TN407

关键词:

摘要: 提出了一种基于自由二元判决图转换的可测性优化方法。该方法首先将电路转化为FB-DD表达形式,然后用切换单元来替换FBDD中的节点,以形成易测的多级网络,再通过冗余的认定和消除来达到可测性逻辑优化的目的。与以前的可测性设计方法相比,这种方法适用于任意电路,特别是规模较大、不能用两级逻辑表达的电路。

English Abstract

章小兵, 王勇, 陈光. 基于自由二元判决图转换的可测性优化方法[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 171-174.

引用本文:

章小兵, 王勇, 陈光. 基于自由二元判决图转换的可测性优化方法[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 171-174.

Zhang Xiaobing, Wang Yong, Cheng Guangju. Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 171-174.

Citation:

Zhang Xiaobing, Wang Yong, Cheng Guangju. Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 171-174.

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