微波晶体管噪声参数CAT

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微波晶体管噪声参数CAT

陈玲, 侯露莹

文章导航 > 电子科技大学学报 > 1997 > 26(4): 382-386

陈玲, 侯露莹. 微波晶体管噪声参数CAT[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(4): 382-386.

引用本文:

陈玲, 侯露莹. 微波晶体管噪声参数CAT[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(4): 382-386.

Chen Ling, Hou Luying. Automated Noise Parameter Measurement for Microwave Transistor[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(4): 382-386.

Citation:

Chen Ling, Hou Luying. Automated Noise Parameter Measurement for Microwave Transistor[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(4): 382-386.

微波晶体管噪声参数CAT

陈玲,
侯露莹

1.
电子科技大学微波中心成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科研项目

作者简介:
陈玲女 34岁硕士副教授

中图分类号: TN454;TM937.4

Automated Noise Parameter Measurement for Microwave Transistor

1.
Microwave Center,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 介绍了一种测量微波晶体管噪声参数的方法,并用矢量网络分析仪和噪声系数测试仪组建了一套自动测试系统。在系统软件的控制下,该系统可对微波晶体管噪声参数进行快速、准确的测量;并给出了部分测试结果,还与厂家典型值进行了比较。
- 微波晶体管 /
- 噪声参数 /
- 自动测试系统 /
- 去嵌入 /
- 计算机辅助测试
Abstract: In thip paper,a method for determination of microwave transistor parameter is described.An automated measurement system for microwave transistor noise parameter is constructed using vector network analyzer and noise figure meter.With the control software,the system can do fast and accurate measurements.Some test results for GaAs FET are given and compared with typical data given by the manufacturer.
- microwave transistor /
- noise parameter /
- automated measurement system /
- de embeding /
- computer-aided test

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微波晶体管噪声参数CAT

陈玲,
侯露莹

1. 电子科技大学微波中心成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科研项目

作者简介:
陈玲女 34岁硕士副教授

收稿日期: 1996-10-08
刊出日期: 1997-08-15

中图分类号: TN454;TM937.4

关键词:

摘要: 介绍了一种测量微波晶体管噪声参数的方法,并用矢量网络分析仪和噪声系数测试仪组建了一套自动测试系统。在系统软件的控制下,该系统可对微波晶体管噪声参数进行快速、准确的测量;并给出了部分测试结果,还与厂家典型值进行了比较。

English Abstract

陈玲, 侯露莹. 微波晶体管噪声参数CAT[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(4): 382-386.

引用本文:

陈玲, 侯露莹. 微波晶体管噪声参数CAT[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(4): 382-386.

Chen Ling, Hou Luying. Automated Noise Parameter Measurement for Microwave Transistor[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(4): 382-386.

Citation:

Chen Ling, Hou Luying. Automated Noise Parameter Measurement for Microwave Transistor[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(4): 382-386.

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