测试图形生成的遗传算法研究

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

测试图形生成的遗传算法研究

潘中良, 陈光

文章导航 > 电子科技大学学报 > 1997 > 26(5): 511-514

潘中良, 陈光. 测试图形生成的遗传算法研究[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(5): 511-514.

引用本文:

潘中良, 陈光. 测试图形生成的遗传算法研究[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(5): 511-514.

Pan Zhongliang, Chen Guangju. Study of Genetic Algorithm Method for Circuit Test Generation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(5): 511-514.

Citation:

Pan Zhongliang, Chen Guangju. Study of Genetic Algorithm Method for Circuit Test Generation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(5): 511-514.

测试图形生成的遗传算法研究

潘中良,
陈光

1.
电子科技大学CAT研究室成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科研项目

作者简介:
潘中良男 31岁博士生

中图分类号: TN407;TP11

Study of Genetic Algorithm Method for Circuit Test Generation

1.
CAT Lab,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 提出了一种用于组合电路测试图形生成的遗传算法。该算法把被测电路的测试生成问题转化为计算一种约束函数的最优解,可充分利用电路的结构信息。为故障节点生成测试时易于操作,且无需经过故障模拟,就可保证对所有可测的单固定型故障及多故障有较高的故障覆盖率。
- 组合电路 /
- 测试生成 /
- 特征函数 /
- 遗传算法
Abstract: A new approach,genetic algorithm method for digital circuit automatic test patterns generation is presented in this paper,which defines a characteristic function for each basic gate circuit,converts the test generation problem of circuit under test(CUT) into searching for the optimal solutions of a constrained function,and can make use of the constructional information of CUT.It is possible to obtain high fault coverage for testable single stuck at and multiple faults with the method without fault simulation.
- digital circuit /
- test generation /
- characteristic function /
- genetic algorithm

[1]	张民, 贾海涛, 沈震. 基于遗传算法改进的粒子滤波重采样模型 . 电子科技大学学报, 2015, 44(3): 344-349. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.005
[2]	薛羽, 庄毅, 朱浩, 张友益礻禹. 求解协同干扰问题的高效免疫遗传算法 . 电子科技大学学报, 2013, 42(3): 452-458. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.03.026
[3]	万建臣, 靳宗信. 多峰值函数优化问题的免疫遗传算法求解 . 电子科技大学学报, 2013, 42(5): 769-772. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.05.024
[4]	王江安, 庄奕琪, 周清军. 遗传算法抑制BOC(1,1)信号多径研究 . 电子科技大学学报, 2010, 39(1): 45-49. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.011
[5]	陈世杰, 连可, 王厚军. 遗传算法优化的SVM模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(4): 553-558. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.04.019
[6]	李向阳, 张亚非. 一种基于遗传算法的语义标注 . 电子科技大学学报, 2007, 36(1): 86-89.
[7]	肖继学, 陈光礻禹, 谢永乐. DF-FPDLMS自适应滤波器的可测性设计与测试 . 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 740-743.
[8]	王瑞平, 万柏坤, 高上凯. 使用遗传算法的乳腺微钙化点特征优化 . 电子科技大学学报, 2007, 36(1): 137-139,153.
[9]	王红, 成本茂, 杨士元, 邢建辉. 一种非同步时序电路的测试生成方案 . 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 733-736.
[10]	吴传信, 倪明放, 陈鸣. 路由选择的一种新遗传算法 . 电子科技大学学报, 2006, 35(5): 744-747.
[11]	沈艳, 郭兵, 古天祥. 粒子群优化算法及其与遗传算法的比较 . 电子科技大学学报, 2005, 34(5): 696-699.
[12]	黄羽, 黄迪明, 何险峰, 武明. 遗传算法在入侵检测中的应用 . 电子科技大学学报, 2003, 32(6): 679-682.
[13]	王忠, 柴贺军, 刘浩吾. 关于进化遗传算法的几点改进 . 电子科技大学学报, 2002, 31(1): 76-79.
[14]	王海枚, 游志胜. 基于遗传算法与模糊控制的建模方法 . 电子科技大学学报, 2002, 31(3): 266-269.
[15]	张宇, 郭晶, 周激流. 动态变异遗传算法 . 电子科技大学学报, 2002, 31(3): 234-239.
[16]	饶克谨, 苟益. 电路模拟吸收体的遗传算法设计 . 电子科技大学学报, 2000, 29(1): 54-60.
[17]	吴斌, 吴坚, 涂序彦. 快速遗传算法研究 . 电子科技大学学报, 1999, 28(1): 49-53.
[18]	王勇, 陈光. 面向时滞测试生成的改进遗传算法 . 电子科技大学学报, 1999, 28(2): 157-161.
[19]	王勇, 陈光礻禹. 时滞测试能量模型的研究和改进 . 电子科技大学学报, 1998, 27(3): 305-309.
[20]	陈朝阳, 陈光, 虞厥邦. 一个基于神经网络的测试生成系统 . 电子科技大学学报, 1997, 26(1): 59-62.

WeChat

点击查看大图

计量

文章访问数: 3417
HTML全文浏览量: 149
PDF下载量: 76
被引次数: 0

测试图形生成的遗传算法研究

潘中良,
陈光

1. 电子科技大学CAT研究室成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科研项目

作者简介:
潘中良男 31岁博士生

收稿日期: 1996-07-08
修回日期: 1997-04-22
刊出日期: 1997-10-15

中图分类号: TN407;TP11

关键词:

摘要: 提出了一种用于组合电路测试图形生成的遗传算法。该算法把被测电路的测试生成问题转化为计算一种约束函数的最优解,可充分利用电路的结构信息。为故障节点生成测试时易于操作,且无需经过故障模拟,就可保证对所有可测的单固定型故障及多故障有较高的故障覆盖率。

English Abstract

潘中良, 陈光. 测试图形生成的遗传算法研究[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(5): 511-514.

引用本文:

潘中良, 陈光. 测试图形生成的遗传算法研究[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(5): 511-514.

Pan Zhongliang, Chen Guangju. Study of Genetic Algorithm Method for Circuit Test Generation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(5): 511-514.

Citation:

Pan Zhongliang, Chen Guangju. Study of Genetic Algorithm Method for Circuit Test Generation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(5): 511-514.

全文HTML

/

下载: 全尺寸图片幻灯片

分享

用微信扫码二维码

分享至好友和朋友圈

返回

期刊在线

编辑办公

友情链接

电子科技大学

版权所有 © 《电子科技大学学报》编辑部

地址: 成都市建设北路二段四号电子科技大学主楼中350室电话: 028-83202308,83207559 Email: xuebao@uestc.edu.cn

本系统由北京仁和汇智信息技术有限公司开发