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复合双压电层FBAR的建模与仿真

杨成韬 李健雄 许绍俊 王锐 张树人

杨成韬, 李健雄, 许绍俊, 王锐, 张树人. 复合双压电层FBAR的建模与仿真[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(2): 301-304. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34
引用本文: 杨成韬, 李健雄, 许绍俊, 王锐, 张树人. 复合双压电层FBAR的建模与仿真[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(2): 301-304. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34
YANG Cheng-tao, LI Jian-xiong, XU Shao-jun, WANG Rui, ZHANG Shu-ren. Modeling and Simulating of Complex Double Piezoelectric Layers’ FBAR[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(2): 301-304. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34
Citation: YANG Cheng-tao, LI Jian-xiong, XU Shao-jun, WANG Rui, ZHANG Shu-ren. Modeling and Simulating of Complex Double Piezoelectric Layers’ FBAR[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(2): 301-304. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34

复合双压电层FBAR的建模与仿真

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34
基金项目: 

部级预研基金

详细信息
    作者简介:

    杨成韬(1965-),男,教授,主要从事铁电、压电薄膜材料及集成器件方面的研究.

  • 中图分类号: TN65

Modeling and Simulating of Complex Double Piezoelectric Layers’ FBAR

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出版历程
  • 收稿日期:  2008-02-12
  • 修回日期:  2008-12-29
  • 刊出日期:  2009-04-15

复合双压电层FBAR的建模与仿真

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34
    基金项目:

    部级预研基金

    作者简介:

    杨成韬(1965-),男,教授,主要从事铁电、压电薄膜材料及集成器件方面的研究.

  • 中图分类号: TN65

摘要: 在复合单压电层薄膜体声波谐振器(FBAR)的基础上,提出了一种新型的复合双压电层FBAR,它可以大大提高压电材料选择的灵活性。通过建模得到该结构的输入阻抗解析表达式,据此进行了仿真分析。仿真结果表明,基模谐振频率随双压电层结构中的较高声速压电膜的厚度所占比率的增加而加速增大,而相对带宽随较高机电耦合系数的压电膜的厚度与较低机电耦合系数的压电膜的厚度比的增加逐渐增加,并且复合双压电层FBAR出现了单压电层时所没有的模式。

English Abstract

杨成韬, 李健雄, 许绍俊, 王锐, 张树人. 复合双压电层FBAR的建模与仿真[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(2): 301-304. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34
引用本文: 杨成韬, 李健雄, 许绍俊, 王锐, 张树人. 复合双压电层FBAR的建模与仿真[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(2): 301-304. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34
YANG Cheng-tao, LI Jian-xiong, XU Shao-jun, WANG Rui, ZHANG Shu-ren. Modeling and Simulating of Complex Double Piezoelectric Layers’ FBAR[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(2): 301-304. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34
Citation: YANG Cheng-tao, LI Jian-xiong, XU Shao-jun, WANG Rui, ZHANG Shu-ren. Modeling and Simulating of Complex Double Piezoelectric Layers’ FBAR[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(2): 301-304. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.02.34

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