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灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法

孙永奎 陈光礻禹 李辉

孙永奎, 陈光礻禹, 李辉. 灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
引用本文: 孙永奎, 陈光礻禹, 李辉. 灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
SUN Yong-kui, CHEN Guang-jü, LI Hui. Fault Diagnosis Method for Analog Circuits Using Sensitivity Analysis and SVM[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
Citation: SUN Yong-kui, CHEN Guang-jü, LI Hui. Fault Diagnosis Method for Analog Circuits Using Sensitivity Analysis and SVM[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016

灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
基金项目: 

国家自然科学基金(60372001,90407007)

详细信息
    作者简介:

    孙永奎(1972-),男,博士,主要从事模拟电路故障诊断和智能信息处理等方面的研究.

  • 中图分类号: TP181;TM930

Fault Diagnosis Method for Analog Circuits Using Sensitivity Analysis and SVM

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出版历程
  • 收稿日期:  2007-10-19
  • 修回日期:  2008-06-12
  • 刊出日期:  2009-12-15

灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
    基金项目:

    国家自然科学基金(60372001,90407007)

    作者简介:

    孙永奎(1972-),男,博士,主要从事模拟电路故障诊断和智能信息处理等方面的研究.

  • 中图分类号: TP181;TM930

摘要: 针对低可测性模拟电路中存在的模糊组问题,提出了一种模拟电路故障诊断的新方法。该方法首先计算被测电路网络传递函数零极点的灵敏度,利用零极点灵敏度提供的信息来对被测电路进行模糊组的划分,组成可诊断的元件集,并引入了支持向量机完成对故障的分类识别。零极点的灵敏度分析确定了被测电路可诊断的元件组,支持向量机结构简单、泛化能力强,实验结果证明了基于灵敏度分析和支持向量模拟电路故障诊断方法的有效性,故障诊断率大于99%。

English Abstract

孙永奎, 陈光礻禹, 李辉. 灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
引用本文: 孙永奎, 陈光礻禹, 李辉. 灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法[J]. 电子科技大学学报, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
SUN Yong-kui, CHEN Guang-jü, LI Hui. Fault Diagnosis Method for Analog Circuits Using Sensitivity Analysis and SVM[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
Citation: SUN Yong-kui, CHEN Guang-jü, LI Hui. Fault Diagnosis Method for Analog Circuits Using Sensitivity Analysis and SVM[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016

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