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6D+2P磁盘阵列校验技术研究

陈华英 刘晓东 董唯元

陈华英, 刘晓东, 董唯元. 6D+2P磁盘阵列校验技术研究[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(2): 251-254,259. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021
引用本文: 陈华英, 刘晓东, 董唯元. 6D+2P磁盘阵列校验技术研究[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(2): 251-254,259. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021
CHEN Hua-ying, LIU Xiao-dong, DONG Wei-yuan. 6D+2P RAID Checkout Technology Research[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(2): 251-254,259. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021
Citation: CHEN Hua-ying, LIU Xiao-dong, DONG Wei-yuan. 6D+2P RAID Checkout Technology Research[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(2): 251-254,259. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021

6D+2P磁盘阵列校验技术研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021
基金项目: 

国家自然科学基金(60472127)

详细信息
    作者简介:

    陈华英(1968-),女,教授,主要从事数据库、图像处理、网络存储技术等方面的研究

  • 中图分类号: TP333

6D+2P RAID Checkout Technology Research

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出版历程
  • 收稿日期:  2009-06-23
  • 修回日期:  2009-09-27
  • 刊出日期:  2010-04-15

6D+2P磁盘阵列校验技术研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021
    基金项目:

    国家自然科学基金(60472127)

    作者简介:

    陈华英(1968-),女,教授,主要从事数据库、图像处理、网络存储技术等方面的研究

  • 中图分类号: TP333

摘要: 通过对磁盘阵列的4种主要校验技术进行深入的分析与研究,提出基于6D+2P的Reed-Solomon编码校验技术,并对基于不同校验技术的磁盘阵列的空间利用率和读写性能进行了比较分析。得出磁盘阵列的各校验技术依据一定的原理进行磁盘阵列的校验冗余与校验恢复,但相互之间仍有共性,如果采用基于6D+2P的磁盘阵列校验技术磁盘阵列的使用率将达到85%,其研究有助于磁盘阵列校验技术的完善与改进。

English Abstract

陈华英, 刘晓东, 董唯元. 6D+2P磁盘阵列校验技术研究[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(2): 251-254,259. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021
引用本文: 陈华英, 刘晓东, 董唯元. 6D+2P磁盘阵列校验技术研究[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(2): 251-254,259. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021
CHEN Hua-ying, LIU Xiao-dong, DONG Wei-yuan. 6D+2P RAID Checkout Technology Research[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(2): 251-254,259. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021
Citation: CHEN Hua-ying, LIU Xiao-dong, DONG Wei-yuan. 6D+2P RAID Checkout Technology Research[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(2): 251-254,259. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.02.021

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