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容差条件下的模拟电路故障诊断方法

李焱骏 王厚军 周龙甫 师奕兵

李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵. 容差条件下的模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013
引用本文: 李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵. 容差条件下的模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013
LI Yan-jun, WANG Hou-jun, ZHOU Long-fu, SHI Yi-bing. Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013
Citation: LI Yan-jun, WANG Hou-jun, ZHOU Long-fu, SHI Yi-bing. Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

容差条件下的模拟电路故障诊断方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013
基金项目: 

新世纪优秀人才支持计划(NCET-05-0804)

详细信息
    作者简介:

    李焱骏(1978-),男,博士生,主要从事模拟电路故障诊断、信号处理方法等方面的研究.

  • 中图分类号: TN713

Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance

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出版历程
  • 收稿日期:  2008-10-15
  • 修回日期:  2009-02-19
  • 刊出日期:  2010-06-15

容差条件下的模拟电路故障诊断方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013
    基金项目:

    新世纪优秀人才支持计划(NCET-05-0804)

    作者简介:

    李焱骏(1978-),男,博士生,主要从事模拟电路故障诊断、信号处理方法等方面的研究.

  • 中图分类号: TN713

摘要: 指出了线性模拟电路中,测试点电压向量在故障状态下相对于标准状态下的变化量,其向量方向由故障元件在 被测电路中的位置决定。证明了线性电路中节点电压灵敏度向量的方向能够反映故障元件的位置。结合节点电压敏感度向量 的模反映故障元件参数变化量到测试点电压变化量的权重这一特点,以节点电压灵敏度向量为故障特征建立了故障字典。提 出一种容差条件下的故障诊断判定算法,兼顾故障定位和元件的参数变化量,可以有效地实现模拟电路元件参数在一定容差 范围内随机变化条件下的单一软故障诊断。仿真结果验证了该理论的正确性和方法的有效性。

English Abstract

李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵. 容差条件下的模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013
引用本文: 李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵. 容差条件下的模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013
LI Yan-jun, WANG Hou-jun, ZHOU Long-fu, SHI Yi-bing. Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013
Citation: LI Yan-jun, WANG Hou-jun, ZHOU Long-fu, SHI Yi-bing. Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

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