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多维累加型交叉并联单奇偶校验码的性能分析

郭凯 陈彦辉 李建东

郭凯, 陈彦辉, 李建东. 多维累加型交叉并联单奇偶校验码的性能分析[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(4): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007
引用本文: 郭凯, 陈彦辉, 李建东. 多维累加型交叉并联单奇偶校验码的性能分析[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(4): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007
GUO Kai, CHEN Yan-hui, LI Jian-dong. Performance Analysis of M-ACPC-SPC Codes[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(4): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007
Citation: GUO Kai, CHEN Yan-hui, LI Jian-dong. Performance Analysis of M-ACPC-SPC Codes[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(4): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007

多维累加型交叉并联单奇偶校验码的性能分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007
基金项目: 

国家863计划(2007AA01Z288);国家杰出青年科学基金(60725105);长江学者和创新团队发展计划和高等学校创新引智计划(B08038)

详细信息
    作者简介:

    郭凯(1982-),男,博士,主要从事信道编码及调制解调技术方面的研究.

  • 中图分类号: TN911.22

Performance Analysis of M-ACPC-SPC Codes

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出版历程
  • 收稿日期:  2008-12-11
  • 修回日期:  2009-05-13
  • 刊出日期:  2010-08-15

多维累加型交叉并联单奇偶校验码的性能分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007
    基金项目:

    国家863计划(2007AA01Z288);国家杰出青年科学基金(60725105);长江学者和创新团队发展计划和高等学校创新引智计划(B08038)

    作者简介:

    郭凯(1982-),男,博士,主要从事信道编码及调制解调技术方面的研究.

  • 中图分类号: TN911.22

摘要: 多维累加型交叉并联单奇偶校验(M-ACPC-SPC)码是一种新的纠错编码,该码具有较低的编、译码复杂度及较好的误比特率性能。推导了M-ACPC-SPC码的平均输入冗余重量枚举函数,由此提出了该码的误比特率性能上界及该码在高信噪比条件下误比特率的近似表达式,其近似结果与仿真值匹配良好。分析表明,随着交织长度及交织器数目的增加,M-ACPC-SPC码的错误平层逐渐降低,为M-ACPC-SPC码的设计提供了有效的参考依据。

English Abstract

郭凯, 陈彦辉, 李建东. 多维累加型交叉并联单奇偶校验码的性能分析[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(4): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007
引用本文: 郭凯, 陈彦辉, 李建东. 多维累加型交叉并联单奇偶校验码的性能分析[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(4): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007
GUO Kai, CHEN Yan-hui, LI Jian-dong. Performance Analysis of M-ACPC-SPC Codes[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(4): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007
Citation: GUO Kai, CHEN Yan-hui, LI Jian-dong. Performance Analysis of M-ACPC-SPC Codes[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(4): 509-512. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.007

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