电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现

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电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现

赵建武, 师奕兵, 王志刚

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赵建武, 师奕兵, 王志刚. 电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(5): 788-792. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

引用本文:

赵建武, 师奕兵, 王志刚. 电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(5): 788-792. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

ZHAO Jian-wu, SHI Yi-bing, WANG Zhi-gang. ADC-BIST Testing Method in Electrical Imaging Well Logging Tools[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(5): 788-792. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

Citation:

ZHAO Jian-wu, SHI Yi-bing, WANG Zhi-gang. ADC-BIST Testing Method in Electrical Imaging Well Logging Tools[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(5): 788-792. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

1.
电子科技大学自动化工程学院成都 610054

基金项目:

国家863计划(2006AA06Z222);中国教育部新世纪优秀人才支持计划(NCET-05-0804)

作者简介:
赵建武(1972-),男,博士,主要从事VLSI和电子系统的测试理论与技术方面的研究.

中图分类号: TN79⁺2

ADC-BIST Testing Method in Electrical Imaging Well Logging Tools

1.
School of Automation Engineering,University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054

摘要: 模拟/数字转换器(ADC)是构成混合信号电路系统的基本器件。针对ADC测试中存在的问题，该文提出了一种新颖的使用斜坡信号作为测试激励的ADC内建自测试输出分析方法，相对于直方图分析方法，具有更短的测试时间，并且硬件资源开销较小。该方法除了可以测试ADC的差分非线性和积分非线性等静态参数，还可检测ADC的漏码特性。该文给出了两种完整的ADC内建自测试实现结构，可用于不同配置的混合信号电路系统。实验结果证明了所提出方法的有效性。
- 模拟电路 /
- 模拟数字转换 /
- 内建自测试 /
- 可测性设计
Abstract: A built-in self-test (BIST) scheme for analog to digital converters is proposed based on a linearramp signal and efficient output analysis. The proposed analysis method is an alternative to histogram-basedanalysis techniques to provide test time improvements, especially when the resources are scarce. In addition to themeasurement of DNL and INL, non-monotonic behavior can also be detected with the proposed technique. Twoimplementation options are presented based on how much on-chip resources are available. Experimental resultsdemonstrate the effectiveness of the proposed approach.
- analog circuits /
- analog to digital conversion /
- built-in self test /
- design for testability

[1]	巩彬, 安爱民, 石耀科, 杜先君. 一种基于IMODA自适应深度信念网络的复杂模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2024, 53(): 1-18. doi: 10.12178/1001-0548.2023047
[2]	高媛, 杨成林. 基于复模型的模拟电路故障诊断 . 电子科技大学学报, 2017, 46(4): 540-546. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2017.04.011
[3]	周启忠, 谢永乐, 毕东杰, 李西峰. 种模拟电路参数型故障诊断新方法 . 电子科技大学学报, 2017, 46(2): 386-391. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2017.02.012
[4]	高昕, 王厚军, 刘震. 线性模拟电路软故障建模与诊断策略 . 电子科技大学学报, 2015, 44(3): 497-402. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.014
[5]	马岚, 王厚军. 基于复互小波分析的模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2013, 42(3): 380-384. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.03.012
[6]	郭志勇, 李广军, 李强. 用于提高ADC性能的自适应Dither结构 . 电子科技大学学报, 2011, 40(3): 375-378. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.03.009
[7]	叶笠, 王厚军, 叶芃, 田书林. 容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法 . 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
[8]	陈世杰, 连可, 王厚军. 遗传算法优化的SVM模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(4): 553-558. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.04.019
[9]	孙永奎, 陈光礻禹, 李辉. 灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
[10]	殷时蓉, 陈光, 谢永乐. 应用Elman网络优化非线性模拟电路测试激励 . 电子科技大学学报, 2008, 37(4): 574-577.
[11]	杨德才, 陈光礻禹, 谢永乐. 累加器实现的时延故障单跳变测试序列生成 . 电子科技大学学报, 2008, 37(2): 238-240,243.
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[20]	潘中良, 陈光. 模拟电路故障诊断的神经网络专家系统方法 . 电子科技大学学报, 1997, 26(4): 405-408.

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电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

1. 电子科技大学自动化工程学院成都 610054

基金项目:

国家863计划(2006AA06Z222);中国教育部新世纪优秀人才支持计划(NCET-05-0804)

作者简介:
赵建武(1972-),男,博士,主要从事VLSI和电子系统的测试理论与技术方面的研究.

收稿日期: 2009-03-04
修回日期: 2009-12-15
刊出日期: 2010-10-15

中图分类号: TN79⁺2

关键词:

摘要: 模拟/数字转换器(ADC)是构成混合信号电路系统的基本器件。针对ADC测试中存在的问题，该文提出了一种新颖的使用斜坡信号作为测试激励的ADC内建自测试输出分析方法，相对于直方图分析方法，具有更短的测试时间，并且硬件资源开销较小。该方法除了可以测试ADC的差分非线性和积分非线性等静态参数，还可检测ADC的漏码特性。该文给出了两种完整的ADC内建自测试实现结构，可用于不同配置的混合信号电路系统。实验结果证明了所提出方法的有效性。

English Abstract

赵建武, 师奕兵, 王志刚. 电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(5): 788-792. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

引用本文:

赵建武, 师奕兵, 王志刚. 电成像测井仪器中ADC-BIST测试方法研究及实现[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(5): 788-792. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

ZHAO Jian-wu, SHI Yi-bing, WANG Zhi-gang. ADC-BIST Testing Method in Electrical Imaging Well Logging Tools[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(5): 788-792. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

Citation:

ZHAO Jian-wu, SHI Yi-bing, WANG Zhi-gang. ADC-BIST Testing Method in Electrical Imaging Well Logging Tools[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(5): 788-792. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.05.029

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