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基于失效物理的电路板寿命预测案例研究

吕卫民 胡冬 谢劲松

吕卫民, 胡冬, 谢劲松. 基于失效物理的电路板寿命预测案例研究[J]. 电子科技大学学报, 2013, 42(4): 635-640. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020
引用本文: 吕卫民, 胡冬, 谢劲松. 基于失效物理的电路板寿命预测案例研究[J]. 电子科技大学学报, 2013, 42(4): 635-640. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020
LV Wei-min, HU Dong, XIE Jin-song. Case Study on Prognostics Technique Based on PoF to Predict Life of PCB[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2013, 42(4): 635-640. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020
Citation: LV Wei-min, HU Dong, XIE Jin-song. Case Study on Prognostics Technique Based on PoF to Predict Life of PCB[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2013, 42(4): 635-640. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020

基于失效物理的电路板寿命预测案例研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020
基金项目: 

国防预研基金

详细信息
    作者简介:

    吕卫民(1970-),男,博士,教授,主要从事综合保障、可靠性工程方面的研究.

  • 中图分类号: TN602

Case Study on Prognostics Technique Based on PoF to Predict Life of PCB

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出版历程
  • 收稿日期:  2011-11-28
  • 修回日期:  2012-11-12
  • 刊出日期:  2013-08-15

基于失效物理的电路板寿命预测案例研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020
    基金项目:

    国防预研基金

    作者简介:

    吕卫民(1970-),男,博士,教授,主要从事综合保障、可靠性工程方面的研究.

  • 中图分类号: TN602

摘要: 舰载电子产品中电路板运用有效的寿命预测技术, 可满足舰载武器寿命周期内的特定需求, 从而提高其贮存期内维修保障的效率. 依照基于失效物理的寿命预测流程, 以典型舰载电子产品中的某个电路板为案例, 拟定出3个薄弱环节, 并参考该电子产品的实际应用情况, 经剪裁后得到了其典型寿命周期环境载荷剖面且加载该剖面; 同时对电路板温度分布、结构动力振动进行了有限元仿真计算, 得出了该电路板上薄弱环节的寿命及其变化范围, 从而预测出该电路板的寿命为3.25年; 最后进一步分析了模型中电磁继电器对于空气的等效标准漏率以及应用环境中相对湿度对寿命的影响.

English Abstract

吕卫民, 胡冬, 谢劲松. 基于失效物理的电路板寿命预测案例研究[J]. 电子科技大学学报, 2013, 42(4): 635-640. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020
引用本文: 吕卫民, 胡冬, 谢劲松. 基于失效物理的电路板寿命预测案例研究[J]. 电子科技大学学报, 2013, 42(4): 635-640. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020
LV Wei-min, HU Dong, XIE Jin-song. Case Study on Prognostics Technique Based on PoF to Predict Life of PCB[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2013, 42(4): 635-640. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020
Citation: LV Wei-min, HU Dong, XIE Jin-song. Case Study on Prognostics Technique Based on PoF to Predict Life of PCB[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2013, 42(4): 635-640. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020

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