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应用电磁拓扑方法求解孔线耦合的瞬态响应

闫哲 何晶 孙婉君 王奇伟

闫哲, 何晶, 孙婉君, 王奇伟. 应用电磁拓扑方法求解孔线耦合的瞬态响应[J]. 电子科技大学学报, 2013, 42(6): 852-856. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008
引用本文: 闫哲, 何晶, 孙婉君, 王奇伟. 应用电磁拓扑方法求解孔线耦合的瞬态响应[J]. 电子科技大学学报, 2013, 42(6): 852-856. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008
YAN Zhe, HE Jing, SUN Wan-jun, WANG Qi-wei. Transient Response of Aperture and Lines Coupling Solved by Using Electromagnetic Topology Method[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2013, 42(6): 852-856. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008
Citation: YAN Zhe, HE Jing, SUN Wan-jun, WANG Qi-wei. Transient Response of Aperture and Lines Coupling Solved by Using Electromagnetic Topology Method[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2013, 42(6): 852-856. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008

应用电磁拓扑方法求解孔线耦合的瞬态响应

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008
详细信息
    作者简介:

    闫哲(1962-),男,博士,主要从事电磁波理论及应用方面的研究.

  • 中图分类号: O441.3

Transient Response of Aperture and Lines Coupling Solved by Using Electromagnetic Topology Method

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出版历程
  • 收稿日期:  2012-01-14
  • 修回日期:  2012-05-31
  • 刊出日期:  2013-12-15

应用电磁拓扑方法求解孔线耦合的瞬态响应

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008
    作者简介:

    闫哲(1962-),男,博士,主要从事电磁波理论及应用方面的研究.

  • 中图分类号: O441.3

摘要: 针对电磁脉冲通过开有小孔的腔体内多导体传输线相耦合问题提出了其电磁拓扑模型,首先利用电磁拓扑理论,建立电磁拓扑图和电磁交互序列图,然后利用等效原理将孔等效为偶极子源并作为腔体内的激励源,经过超矢量积分变换后计算线上的等效分布源,最后给出了感应电压和电场屏蔽效能的仿真结果,并验证了模型的有效性.

English Abstract

闫哲, 何晶, 孙婉君, 王奇伟. 应用电磁拓扑方法求解孔线耦合的瞬态响应[J]. 电子科技大学学报, 2013, 42(6): 852-856. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008
引用本文: 闫哲, 何晶, 孙婉君, 王奇伟. 应用电磁拓扑方法求解孔线耦合的瞬态响应[J]. 电子科技大学学报, 2013, 42(6): 852-856. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008
YAN Zhe, HE Jing, SUN Wan-jun, WANG Qi-wei. Transient Response of Aperture and Lines Coupling Solved by Using Electromagnetic Topology Method[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2013, 42(6): 852-856. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008
Citation: YAN Zhe, HE Jing, SUN Wan-jun, WANG Qi-wei. Transient Response of Aperture and Lines Coupling Solved by Using Electromagnetic Topology Method[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2013, 42(6): 852-856. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.06.008

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