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基于特征优选模拟电路故障诊断方法

李旻 咸卫明 龙兵 王厚军

李旻, 咸卫明, 龙兵, 王厚军. 基于特征优选模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
引用本文: 李旻, 咸卫明, 龙兵, 王厚军. 基于特征优选模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
LI Min, XIAN Wei-ming, LONG Bing, WANG Hou-jun. Method for Fault Diagnosis of Analog Circuits Based on Feature Selection[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
Citation: LI Min, XIAN Wei-ming, LONG Bing, WANG Hou-jun. Method for Fault Diagnosis of Analog Circuits Based on Feature Selection[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015

基于特征优选模拟电路故障诊断方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
基金项目: 

国家自然科学基金(61071029,60934002,61201009,61271035)

详细信息
    作者简介:

    李旻(1973-),男,在职博士生,主要从事电路与系统失效分析、自动化测试、诊断、预测方面的研究.

  • 中图分类号: TN707

Method for Fault Diagnosis of Analog Circuits Based on Feature Selection

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出版历程
  • 收稿日期:  2013-04-16
  • 修回日期:  2013-09-06
  • 刊出日期:  2014-08-15

基于特征优选模拟电路故障诊断方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
    基金项目:

    国家自然科学基金(61071029,60934002,61201009,61271035)

    作者简介:

    李旻(1973-),男,在职博士生,主要从事电路与系统失效分析、自动化测试、诊断、预测方面的研究.

  • 中图分类号: TN707

摘要: 传统基于最小二乘支持向量机模拟电路故障诊断方法都是使用单一的特征向量组合训练支持向量机所有二分类器,然而实际上每个二分类器对不同的特征向量组合有不同的分类精度。因此,提出了基于马氏距离的粒子群优化算法,为最小二乘支持向量机所有二分类器优选出近最优的特征向量组合。然后,将近最优特征向量组合用于训练和测试该支持向量机。最后把该方法应用于模拟电路早期故障诊断,实验结果表明,基于近最优特征向量组合的诊断精度要高于单一特征向量组合的诊断精度。

English Abstract

李旻, 咸卫明, 龙兵, 王厚军. 基于特征优选模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
引用本文: 李旻, 咸卫明, 龙兵, 王厚军. 基于特征优选模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
LI Min, XIAN Wei-ming, LONG Bing, WANG Hou-jun. Method for Fault Diagnosis of Analog Circuits Based on Feature Selection[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
Citation: LI Min, XIAN Wei-ming, LONG Bing, WANG Hou-jun. Method for Fault Diagnosis of Analog Circuits Based on Feature Selection[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015

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