2015 Vol. 44, No. 3
2015, 44(3): 392-395.
doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.013
Abstract:
提出一种基于模糊神经网络局部诊断和D-S融合决策的航空电子设备故障诊断方案。首先将设备故障特征信息进行有效组合,构建多个子模糊神经网络完成故障的局部诊断,以获得彼此独立的证据;然后应用Dempster-Shafe证据理论对各个证据进行决策融合,最后根据构建的诊断框架特点用局部诊断输出值及其正确率来获取基本概率赋值。该方案应用于某型号机载电台的仿真结果表明,经过信息融合多级处理后,诊断结论的可信度明显增加,故障识别的正确率得到有效提高。
提出一种基于模糊神经网络局部诊断和D-S融合决策的航空电子设备故障诊断方案。首先将设备故障特征信息进行有效组合,构建多个子模糊神经网络完成故障的局部诊断,以获得彼此独立的证据;然后应用Dempster-Shafe证据理论对各个证据进行决策融合,最后根据构建的诊断框架特点用局部诊断输出值及其正确率来获取基本概率赋值。该方案应用于某型号机载电台的仿真结果表明,经过信息融合多级处理后,诊断结论的可信度明显增加,故障识别的正确率得到有效提高。
2015, 44(3): 471-474.
doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.027
Abstract:
研究了含纳米0.1 wt.%Al颗粒SnAgCu无铅钎料Anand本构关系,将本构关系应用于有限元模拟,分析FCBGA器件SnAgCu-nano Al焊点的应力-应变响应。结果表明,在不同的温度和应变速率的条件下,可以采用非线性数据拟合方法得到SnAgCu-nano Al钎料的Anand本构方程的9个参数值。结合Anand本构模型,采用有限元法计算焊点应力-应变,发现FCBGA器件SnAgCu-nano Al焊点应力-应变分布和焊点阵列有明显的关系,最大的应力-应变集中于拐角焊点;SnAgCu-nano Al焊点的应力-应变值明显低于SnAgCu焊点,证明纳米Al可以提高SnAgCu焊点的可靠性。
研究了含纳米0.1 wt.%Al颗粒SnAgCu无铅钎料Anand本构关系,将本构关系应用于有限元模拟,分析FCBGA器件SnAgCu-nano Al焊点的应力-应变响应。结果表明,在不同的温度和应变速率的条件下,可以采用非线性数据拟合方法得到SnAgCu-nano Al钎料的Anand本构方程的9个参数值。结合Anand本构模型,采用有限元法计算焊点应力-应变,发现FCBGA器件SnAgCu-nano Al焊点应力-应变分布和焊点阵列有明显的关系,最大的应力-应变集中于拐角焊点;SnAgCu-nano Al焊点的应力-应变值明显低于SnAgCu焊点,证明纳米Al可以提高SnAgCu焊点的可靠性。