组合测试用例集的动态生成算法

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组合测试用例集的动态生成算法

崔应霞, 李龙澍, 姚晟

文章导航 > 电子科技大学学报 > 2011 > 40(4): 612-615

崔应霞, 李龙澍, 姚晟. 组合测试用例集的动态生成算法[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(4): 612-615.

引用本文:

崔应霞, 李龙澍, 姚晟. 组合测试用例集的动态生成算法[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(4): 612-615.

CUI Ying-xia, LI Long-shu, YAO Sheng. Dynamic Generation Algorithm of Combinatorial Test Suite[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(4): 612-615.

Citation:

CUI Ying-xia, LI Long-shu, YAO Sheng. Dynamic Generation Algorithm of Combinatorial Test Suite[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(4): 612-615.

组合测试用例集的动态生成算法

1.
安徽大学计算机科学与技术学院合肥 230039

基金项目:

安徽省自然科学基金(090412054);安徽省科技攻关计划重大科技专项(08010201002);安徽省教育厅重点项目(KJ2009A001Z)

作者简介:
崔应霞(1984-)，女，博士，主要从事程序切片、软件测试方面的研究.

中图分类号: TP311.5

Dynamic Generation Algorithm of Combinatorial Test Suite

1.
School of Computer Science and Technology,Anhui University Hefei 230039

摘要: 在逐因素扩展算法的基础上，提出了一种有效的组合测试用例生成算法IPO_T。该算法根据已被扩展的测试用例覆盖t(t≥2)参数值组合的情况确定水平扩展方法，并依据新的被覆盖的t参数值组合修改已被扩展的部分测试用例，从而达到对测试用例集的优化。设计实现了基于该方法的测试用例生成工具。通过和部分现有的支持t维组合测试工具比较，IPO_T在合理的时间内产生的测试用例集较小。
- 组合测试 /
- 动态生成 /
- 水平扩展 /
- 测试用例生成
Abstract: An effective combinatorial test case generation algorithm called in parameter order_T-way (IPO_T) is proposed based on in parameter order (IPO) algorithm. In order to achieve the optimization of test suite, IPO_T algorithm determines the method of horizontal growth according to t-way(t≥2) combinations that are covered by the extended test cases, and revises extended test cases depending on the new covered t-way combinations. A test case generation tool is designed and implemented with this approach, and compared with some existing tools. Experimental results show that IPO_T outperforms them in terms of the number of generated test case within reasonable execution times.
- combinatorial test /
- dynamic generation /
- horizontal growth /
- test case generation

[1]	陈丽, 许思扬, 刘芳, 冯奇, 刘承享, 徐福琛, 田淼, 刘光辉. 基于生成对抗网络的OFDM信号生成 . 电子科技大学学报, 2023, 52(6): 841-850. doi: 10.12178/1001-0548.2022253
[2]	韩仪, 冯鑫, 周金连, 吴晔, 肖井华. 知识标签网络生成机制研究 . 电子科技大学学报, 2021, 50(2): 294-302. doi: 10.12178/1001-0548.2020084
[3]	雷航, 韩炫. 采用HC-MARPSO算法的软件测试数据生成方法 . 电子科技大学学报, 2012, 41(6): 885-890. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.06.013
[4]	耿技, 聂鹏, 秦志光. 软件确保智能测试用例生成PSO算法进展研究 . 电子科技大学学报, 2012, 41(6): 905-910. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.06.017
[5]	贾艳艳, 胡予濮, 高军涛. 比特搜索生成器的快速密钥恢复攻击 . 电子科技大学学报, 2011, 40(5): 783-786. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.05.028
[6]	雷航, 陈丽敏. Markov链使用模型的测试用例生成方法研究 . 电子科技大学学报, 2011, 40(5): 732-736. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.05.019
[7]	姜书艳, 罗毅, 罗刚, 谢永乐. 电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析 . 电子科技大学学报, 2010, 39(1): 61-64. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015
[8]	杨德才, 陈光礻禹, 谢永乐. 累加器实现的时延故障单跳变测试序列生成 . 电子科技大学学报, 2008, 37(2): 238-240,243.
[9]	葛芬, 吴宁. 基于多种技术的Word设计文档自动生成平台 . 电子科技大学学报, 2007, 36(2): 263-266.
[10]	周雪莲, 罗代升, 张朋, 张天宇, 王博. 自动生成特定伪码的设计与实现 . 电子科技大学学报, 2007, 36(2): 260-262,324.
[11]	王红, 成本茂, 杨士元, 邢建辉. 一种非同步时序电路的测试生成方案 . 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 733-736.
[12]	许之, 唐晓华, 卢显良. 网络负载生成器的研究与设计 . 电子科技大学学报, 2005, 34(5): 654-656,712.
[13]	向渝, 张骏, 汪文勇. 成对测试中的一种用例生成算法 . 电子科技大学学报, 2005, 34(6): 821-824.
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组合测试用例集的动态生成算法

1. 安徽大学计算机科学与技术学院合肥 230039

基金项目:

安徽省自然科学基金(090412054);安徽省科技攻关计划重大科技专项(08010201002);安徽省教育厅重点项目(KJ2009A001Z)

作者简介:
崔应霞(1984-)，女，博士，主要从事程序切片、软件测试方面的研究.

收稿日期: 2009-12-01
修回日期: 2010-06-22
刊出日期: 2011-08-15

中图分类号: TP311.5

关键词:

摘要: 在逐因素扩展算法的基础上，提出了一种有效的组合测试用例生成算法IPO_T。该算法根据已被扩展的测试用例覆盖t(t≥2)参数值组合的情况确定水平扩展方法，并依据新的被覆盖的t参数值组合修改已被扩展的部分测试用例，从而达到对测试用例集的优化。设计实现了基于该方法的测试用例生成工具。通过和部分现有的支持t维组合测试工具比较，IPO_T在合理的时间内产生的测试用例集较小。

English Abstract

崔应霞, 李龙澍, 姚晟. 组合测试用例集的动态生成算法[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(4): 612-615.

引用本文:

崔应霞, 李龙澍, 姚晟. 组合测试用例集的动态生成算法[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(4): 612-615.

CUI Ying-xia, LI Long-shu, YAO Sheng. Dynamic Generation Algorithm of Combinatorial Test Suite[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(4): 612-615.

Citation:

CUI Ying-xia, LI Long-shu, YAO Sheng. Dynamic Generation Algorithm of Combinatorial Test Suite[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(4): 612-615.

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