高温超导薄膜微波表面电阻测试方法的改进

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高温超导薄膜微波表面电阻测试方法的改进

何建, 罗正祥

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何建, 罗正祥. 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法的改进[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(4): 488-490.

引用本文:

何建, 罗正祥. 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法的改进[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(4): 488-490.

HE Jian, LUO Zheng-xiang. Improvement of the Testing Method of Microwave Surface Resistance of High Tc Superconductive Thin Films[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(4): 488-490.

Citation:

HE Jian, LUO Zheng-xiang. Improvement of the Testing Method of Microwave Surface Resistance of High Tc Superconductive Thin Films[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(4): 488-490.

高温超导薄膜微波表面电阻测试方法的改进

何建¹,
罗正祥²

1.
中国民航飞行学院航空工程学院四川广汉 618307;
2.
电子科技大学光电信息学院成都 610054

作者简介:
何建(1971-),硕士,讲师,主要从事高温超导与微波技术方面的研究.

中图分类号: TN015

Improvement of the Testing Method of Microwave Surface Resistance of High Tc Superconductive Thin Films

HE Jian¹,
LUO Zheng-xiang²

1.
Aviation Engineering Institute,Civil Aviation Flight University of China Guanghan Sichuan 618307;
2.
School of Opto-Electronic Information,Univ. of Electron. Sci. & Tech. of China Chengdu 610054

摘要: 介绍了一种12 GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻Rs测试系统。该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石,构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,在77 K时,利用测量介质谐振器的Q值得到单片高温超导薄膜的微波表面电阻Rs。分析了其耦合装置对校准物理模型的影响,通过改进耦合装置可提高系统测试的准确度。该系统与前三代测试系统进行比较,其测试准确度有明显地提高。
- 高温超导薄膜 /
- 微波表面电阻 /
- 介质谐振器 /
- 品质因数
Abstract: A kind of High Tc superconductive thin film microwave surface resistance test system around 12 GHz is described in this paper. The surface resistance of a single piece of high Tc superconductive thin film can be measured by a sapphire resonator with TE011+δ mode non-destructivity, at 77 K. By measuring the value of the resonator's quality factor, the surface resistance of testing sample can be also determined. And the influence of coupling device on calibrating physical model is also analyzed in this paper. Then testing accuracy of the system can be raised by improving coupling device. The test system is compared with former generations, and the testing accuracy is raised obviously.
- high temperature superconductive thin film /
- microwave surface resistance /
- dielectric resonator /
- quality factor

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[2]	常淑俊, 孙佳伟. 微机电硅谐振器动态建模及同步控制 . 电子科技大学学报, 2023, 52(3): 475-480. doi: 10.12178/1001-0548.2022371
[3]	陶勇. 量子涨落与过掺杂铜氧化物超导薄膜中的反常两段标度 . 电子科技大学学报, 2022, 51(2): 314-320. doi: 10.12178/1001-0548.2021088
[4]	梁亚春, 朱健凯, 肖飞, 焦陈寅, 徐博, 夏娟, 王曾晖. 二维纳米机电谐振器高效制备 . 电子科技大学学报, 2022, 51(3): 452-457. doi: 10.12178/1001-0548.2021399
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高温超导薄膜微波表面电阻测试方法的改进

何建¹,
罗正祥²

1. 中国民航飞行学院航空工程学院四川广汉 618307;

2. 电子科技大学光电信息学院成都 610054

作者简介:
何建(1971-),硕士,讲师,主要从事高温超导与微波技术方面的研究.

收稿日期: 2005-05-23
刊出日期: 2006-08-15

中图分类号: TN015

关键词:

摘要: 介绍了一种12 GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻Rs测试系统。该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石,构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,在77 K时,利用测量介质谐振器的Q值得到单片高温超导薄膜的微波表面电阻Rs。分析了其耦合装置对校准物理模型的影响,通过改进耦合装置可提高系统测试的准确度。该系统与前三代测试系统进行比较,其测试准确度有明显地提高。

English Abstract

何建, 罗正祥. 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法的改进[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(4): 488-490.

引用本文:

何建, 罗正祥. 高温超导薄膜微波表面电阻测试方法的改进[J]. 电子科技大学学报, 2006, 35(4): 488-490.

HE Jian, LUO Zheng-xiang. Improvement of the Testing Method of Microwave Surface Resistance of High Tc Superconductive Thin Films[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(4): 488-490.

Citation:

HE Jian, LUO Zheng-xiang. Improvement of the Testing Method of Microwave Surface Resistance of High Tc Superconductive Thin Films[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2006, 35(4): 488-490.

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