一种非同步时序电路的测试生成方案

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一种非同步时序电路的测试生成方案

王红, 成本茂, 杨士元, 邢建辉

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王红, 成本茂, 杨士元, 邢建辉. 一种非同步时序电路的测试生成方案[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 733-736.

引用本文:

王红, 成本茂, 杨士元, 邢建辉. 一种非同步时序电路的测试生成方案[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 733-736.

WANG Hong, CHENG Ben-mao, YANG Shi-yuan, XING Jian-hui. Test Generation for Non-Synchronous Sequential Circuit[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 733-736.

Citation:

WANG Hong, CHENG Ben-mao, YANG Shi-yuan, XING Jian-hui. Test Generation for Non-Synchronous Sequential Circuit[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 733-736.

一种非同步时序电路的测试生成方案

1.
清华大学自动化系北京海淀区 100084

基金项目:

国家自然科学基金项目(60633060)

作者简介:
王红(1971-),女,博士,副教授,主要从事电子电路的测试、故障诊断及可测性设计方面的研究.

中图分类号: TN431

Test Generation for Non-Synchronous Sequential Circuit

1.
Department of Automation,Tsinghua University Haidian Beijing 100084

摘要: 分析了非同步时序电路测试生成所面临的问题。根据测试状态下非同步时序电路的时序特点,结合同步时序电路测试生成算法,提出和论证了一种解决非同步时序电路测试生成问题的方案,通过为时序元件建立完全模型,将时序电路中的时钟信号引入,为非同步时序电路构建出用于测试的单时钟同步电路模型,从而直接用同步时序电路测试生成算法解决非同步电路的测试生成问题。
- 完全模型 /
- 非同步时序电路 /
- 单时钟同步电路 /
- 测试生成
Abstract: The problem of test generation for sequential circuits belongs to the class of NP-complete problem. Due to its complexity test generation for sequential circuits always focuses on the single-clock circuits. However there are many non-synchronous circuits with multiple clocks or internal clock structures in the industrial applications, which could not be handled as the traditional synchronous circuits. In this paper, an orbicular model is presented which introduce the clock signal to the circuit model for test generation. Then a test generation flow for non-synchronous circuits is built up. By this approach, the non-synchronous circuits can be represented in synchronous models in order to utilize the synchronous sequential test generation directly.
- completive model /
- non-synchronous sequential circuit /
- synchronous sequential circuit /
- test generation

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一种非同步时序电路的测试生成方案

1. 清华大学自动化系北京海淀区 100084

基金项目:

国家自然科学基金项目(60633060)

作者简介:
王红(1971-),女,博士,副教授,主要从事电子电路的测试、故障诊断及可测性设计方面的研究.

收稿日期: 2005-04-23
刊出日期: 2006-08-15

中图分类号: TN431

关键词:

摘要: 分析了非同步时序电路测试生成所面临的问题。根据测试状态下非同步时序电路的时序特点,结合同步时序电路测试生成算法,提出和论证了一种解决非同步时序电路测试生成问题的方案,通过为时序元件建立完全模型,将时序电路中的时钟信号引入,为非同步时序电路构建出用于测试的单时钟同步电路模型,从而直接用同步时序电路测试生成算法解决非同步电路的测试生成问题。

English Abstract

王红, 成本茂, 杨士元, 邢建辉. 一种非同步时序电路的测试生成方案[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 733-736.

引用本文:

王红, 成本茂, 杨士元, 邢建辉. 一种非同步时序电路的测试生成方案[J]. 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 733-736.

WANG Hong, CHENG Ben-mao, YANG Shi-yuan, XING Jian-hui. Test Generation for Non-Synchronous Sequential Circuit[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 733-736.

Citation:

WANG Hong, CHENG Ben-mao, YANG Shi-yuan, XING Jian-hui. Test Generation for Non-Synchronous Sequential Circuit[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2007, 36(4): 733-736.

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