VLSI功能测试的最佳测试序列的选取

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VLSI功能测试的最佳测试序列的选取

曾成碧, 陈光

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曾成碧, 陈光. VLSI功能测试的最佳测试序列的选取[J]. 电子科技大学学报, 2000, 29(2): 178-181.

引用本文:

曾成碧, 陈光. VLSI功能测试的最佳测试序列的选取[J]. 电子科技大学学报, 2000, 29(2): 178-181.

Zeng Chengbi, Chen Guangju. Choice of Best Test Sequence for VLSI Functional Testing[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2000, 29(2): 178-181.

Citation:

Zeng Chengbi, Chen Guangju. Choice of Best Test Sequence for VLSI Functional Testing[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2000, 29(2): 178-181.

VLSI功能测试的最佳测试序列的选取

曾成碧¹,
陈光²

1.
四川大学电力系成都 610065;
2.
电子科技大学CAT室成都 610054

基金项目:

国家“八五”重点科研项目

作者简介:
曾成碧女 29岁博士生讲师

中图分类号: TN707

Choice of Best Test Sequence for VLSI Functional Testing

Zeng Chengbi¹,
Chen Guangju²

1.
Dept. of Electrical Power Engineering,Sichuan University Chengdu 610065;
2.
CAT Lab.,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵。用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优化了测试序列,即从给定的指令中选出了最佳测试序列。
- 最佳测试序列 /
- 功能测试 /
- 数字电路 /
- Petri网
Abstract: This paper introduces Petri net model of functional test pattern generation for VLSI. Relationships between operators involved in test sequence are accomplished via Petri. Reduced matrix compacting storage of net topology is constructed. Ambiguity of test sequence is checked via Petri net matrix. Test pattern is optimized and the best test sequence is got.
- digital circuits /
- best test sequence /
- functional test /
- Petri net

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[4]	汤志伟, 殷静. 基于扩展Petri网的仿真建模与分析 . 电子科技大学学报, 2012, 41(1): 131-135. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.01.025
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VLSI功能测试的最佳测试序列的选取

曾成碧¹,
陈光²

1. 四川大学电力系成都 610065;

2. 电子科技大学CAT室成都 610054

基金项目:

国家“八五”重点科研项目

作者简介:
曾成碧女 29岁博士生讲师

收稿日期: 1999-10-25
刊出日期: 2000-04-15

中图分类号: TN707

关键词:

摘要: 介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵。用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优化了测试序列,即从给定的指令中选出了最佳测试序列。

English Abstract

曾成碧, 陈光. VLSI功能测试的最佳测试序列的选取[J]. 电子科技大学学报, 2000, 29(2): 178-181.

引用本文:

曾成碧, 陈光. VLSI功能测试的最佳测试序列的选取[J]. 电子科技大学学报, 2000, 29(2): 178-181.

Zeng Chengbi, Chen Guangju. Choice of Best Test Sequence for VLSI Functional Testing[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2000, 29(2): 178-181.

Citation:

Zeng Chengbi, Chen Guangju. Choice of Best Test Sequence for VLSI Functional Testing[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2000, 29(2): 178-181.

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