RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析

文章导航 > 电子科技大学学报 > 1999 > 28(1): 103-107

阮世池. RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(1): 103-107.

引用本文:

阮世池. RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(1): 103-107.

Ruan Shichi. Analysis of Disfuction Principle of A Series of RY-2W-15k Resistor[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(1): 103-107.

Citation:

Ruan Shichi. Analysis of Disfuction Principle of A Series of RY-2W-15k Resistor[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(1): 103-107.

RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析

阮世池

1.
电子科技大学电子材料分析中心成都 610054

作者简介:
阮世池男 57岁大学副教授

中图分类号: TN16;TM544.5

Analysis of Disfuction Principle of A Series of RY-2W-15k Resistor

Ruan Shichi

1.
Analysis Center of Electronic Materials,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 利用电子显微分析法对失效电阻作了电子显微分析,查明了劣质的电阻器绝缘涂复层的防潮性能和防腐性能差。由于电阻器吸入了水汽和腐蚀性气体,引起电阻器的导电膜被电解腐蚀,最终导致电阻器失效。
- 电子显微分析 /
- 电阻器 /
- 绝缘涂复层 /
- 失效
Abstract: A series of RY-2W-15k resistor is analyzed with EPMA. It is proved that the poorer the quality of insulated coat is, the poorer function it has against wet and etch. As the resistor absorbs moisture or/and eching gas, the electroconductive film of resistor is etched for electrolysis, which results in resistor disfuction.
- electron probe microanalysis /
- resistor /
- insulated-coat /
- disfuction

[1]	彭逸飞, 涂晓东, 许都, 王颢钢, 谢军, 蒋体钢. 时间触发以太网与时间敏感网络时钟同步失效对比分析 . 电子科技大学学报, 2023, 52(5): 718-727. doi: 10.12178/1001-0548.2022223
[2]	贾春晓, 李明, 刘润然. 多层复杂网络上的渗流与级联失效动力学 . 电子科技大学学报, 2022, 51(1): 148-160. doi: 10.12178/1001-0548.2021184
[3]	宋连宁, 叶雨农, 荣志, 胡俊, 聂在平. 基于自适应多层复源波束的多目标散射分析方法 . 电子科技大学学报, 2018, 47(4): 497-501. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2018.04.004
[4]	刘强, 陈西宏, 薛伦生, 范玉平, 张群. 基于映射函数的对流层双向时间比对斜延迟分析 . 电子科技大学学报, 2015, 44(5): 689-694. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.05.009
[5]	邓江, 曾葆青. Al掺杂MgO保护层对二次电子发射系数的影响 . 电子科技大学学报, 2015, 44(3): 375-380. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.010
[6]	鄢永明, 曾云, 夏宇, 张国梁. 维持电压和失效电流线性可调节的高压ESD器件 . 电子科技大学学报, 2015, 44(5): 700-704. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.05.011
[7]	马岚, 王厚军. 基于复互小波分析的模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2013, 42(3): 380-384. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.03.012
[8]	吕卫民, 胡冬, 谢劲松. 基于失效物理的电路板寿命预测案例研究 . 电子科技大学学报, 2013, 42(4): 635-640. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.04.020
[9]	汪颖, 杨达, 肖先勇, 杨景岗. 个人电脑电压暂降失效事件组合不确定性评估 . 电子科技大学学报, 2013, 42(5): 700-704. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2013.05.011
[10]	李元勋, 边丽菲, 刘颖力, 张怀武, 李颉. 叠层片式LTCC低通滤波器的设计与制作 . 电子科技大学学报, 2009, 38(4): 521-524. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.04.011
[11]	刘孝保, 杜平安, 李磊. 叠层CSP封装的振动模糊可靠性分析 . 电子科技大学学报, 2008, 37(3): 478-480.
[12]	肖继学, 陈光礻禹, 谢永乐. DF-FPDLMS自适应滤波器的可测性设计与测试 . 电子科技大学学报, 2007, 36(4): 740-743.
[13]	吴劲, 卢显良, 任立勇, 魏青松. 缓存失效策略的性能分析数学模型 . 电子科技大学学报, 2005, 34(2): 225-228.
[14]	滕旭东, 袁晓, 赵元英, 魏永豪. 数字分数微分器系数的快速算法 . 电子科技大学学报, 2004, 33(4): 457-460.
[15]	李志刚, 王宝光, 杜振辉, 蒋诚志, 张丽陶. 激光多普勒信号跟踪微分器的分析与设计 . 电子科技大学学报, 2004, 33(4): 453-456.
[16]	喻伟, 张具明, 徐安石. 无穷时滞泛函微分方程解的稳定性分析 . 电子科技大学学报, 2001, 30(5): 529-532.
[17]	陶德元, 袁晓, 何小海. 一类复子波的时-频局域化特征分析 . 电子科技大学学报, 2001, 30(1): 21-25.
[18]	张生才, 申云琴, 姚素英. 热打印头的失效机理与寿命分析 . 电子科技大学学报, 2001, 30(2): 181-184.
[19]	周鸿仁, 刘秀蓉, 徐蓓娜. 直流磁控溅射铂电阻薄膜 . 电子科技大学学报, 1997, 26(6): 662-665.
[20]	徐朴, 林昌禄. 涂覆型圆柱的散射矩阵及极化分析 . 电子科技大学学报, 1997, 26(4): 370-373.

WeChat

点击查看大图

计量

文章访问数: 4160
HTML全文浏览量: 93
PDF下载量: 82
被引次数: 0

RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析

阮世池

1. 电子科技大学电子材料分析中心成都 610054

作者简介:
阮世池男 57岁大学副教授

收稿日期: 1998-04-07
修回日期: 1998-05-06
刊出日期: 1999-02-15

中图分类号: TN16;TM544.5

关键词:

摘要: 利用电子显微分析法对失效电阻作了电子显微分析,查明了劣质的电阻器绝缘涂复层的防潮性能和防腐性能差。由于电阻器吸入了水汽和腐蚀性气体,引起电阻器的导电膜被电解腐蚀,最终导致电阻器失效。

English Abstract

阮世池. RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(1): 103-107.

引用本文:

阮世池. RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析[J]. 电子科技大学学报, 1999, 28(1): 103-107.

Ruan Shichi. Analysis of Disfuction Principle of A Series of RY-2W-15k Resistor[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(1): 103-107.

Citation:

Ruan Shichi. Analysis of Disfuction Principle of A Series of RY-2W-15k Resistor[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1999, 28(1): 103-107.

全文HTML

/

下载: 全尺寸图片幻灯片

分享

用微信扫码二维码

分享至好友和朋友圈

返回

期刊在线

编辑办公

友情链接

电子科技大学

版权所有 © 《电子科技大学学报》编辑部

地址: 成都市建设北路二段四号电子科技大学主楼中350室电话: 028-83202308,83207559 Email: xuebao@uestc.edu.cn

本系统由北京仁和汇智信息技术有限公司开发