时滞测试能量模型的研究和改进

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时滞测试能量模型的研究和改进

王勇, 陈光礻禹

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王勇, 陈光礻禹. 时滞测试能量模型的研究和改进[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(3): 305-309.

引用本文:

王勇, 陈光礻禹. 时滞测试能量模型的研究和改进[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(3): 305-309.

Wang Yong, Chen Guangju. A Study and Improvement on Energy Functions for Delay Testing[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(3): 305-309.

Citation:

Wang Yong, Chen Guangju. A Study and Improvement on Energy Functions for Delay Testing[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(3): 305-309.

时滞测试能量模型的研究和改进

1.
电子科技大学CAT室成都 610054

作者简介:
王勇男 35岁博士生

中图分类号: TN407;TP11

A Study and Improvement on Energy Functions for Delay Testing

1.
CAT Lab,UEST of China Chengdu 610054

摘要: 针对文献[1]提出的时滞测试能量函数,指出了该时滞测试能量函数在测试生成时可能产生无效测试,且其表达式较复杂。在此基础上构造了新的时滞测试能量函数,克服了文献[1]的时滞测试能量函数的不足。
- 测试生成 /
- 时滞故障 /
- 时滞测试 /
- 能量函数 /
- 冒险
Abstract: In this paper,the shortcomings of the energy functions for delay testing in Ref.[1] are discussed.That is the test patterns generated by using the energy functions may be invalid and the expressions of the energy functions are rather complex.On the basis of the discussion,new energy functions for delay testing are presented,which overcome the shortcomings of the energy funtions for delay testing in the Ref.[1].
- test pattern generation /
- delay fault /
- delay testing /
- energy functions /
- hazard

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时滞测试能量模型的研究和改进

1. 电子科技大学CAT室成都 610054

作者简介:
王勇男 35岁博士生

收稿日期: 1997-05-16
修回日期: 1997-12-02
刊出日期: 1998-06-15

中图分类号: TN407;TP11

关键词:

摘要: 针对文献[1]提出的时滞测试能量函数,指出了该时滞测试能量函数在测试生成时可能产生无效测试,且其表达式较复杂。在此基础上构造了新的时滞测试能量函数,克服了文献[1]的时滞测试能量函数的不足。

English Abstract

王勇, 陈光礻禹. 时滞测试能量模型的研究和改进[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(3): 305-309.

引用本文:

王勇, 陈光礻禹. 时滞测试能量模型的研究和改进[J]. 电子科技大学学报, 1998, 27(3): 305-309.

Wang Yong, Chen Guangju. A Study and Improvement on Energy Functions for Delay Testing[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(3): 305-309.

Citation:

Wang Yong, Chen Guangju. A Study and Improvement on Energy Functions for Delay Testing[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1998, 27(3): 305-309.

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