留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

基于自由二元判决图转换的可测性优化方法

章小兵 王勇 陈光

章小兵, 王勇, 陈光. 基于自由二元判决图转换的可测性优化方法[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 171-174.
引用本文: 章小兵, 王勇, 陈光. 基于自由二元判决图转换的可测性优化方法[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 171-174.
Zhang Xiaobing, Wang Yong, Cheng Guangju. Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 171-174.
Citation: Zhang Xiaobing, Wang Yong, Cheng Guangju. Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 171-174.

基于自由二元判决图转换的可测性优化方法

基金项目: 

国家"八五"重点科研项目

详细信息
    作者简介:

    章小兵 男 26岁 博士生

  • 中图分类号: TN407

Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation

计量
  • 文章访问数:  3965
  • HTML全文浏览量:  145
  • PDF下载量:  61
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1996-06-05
  • 刊出日期:  1997-04-15

基于自由二元判决图转换的可测性优化方法

    基金项目:

    国家"八五"重点科研项目

    作者简介:

    章小兵 男 26岁 博士生

  • 中图分类号: TN407

摘要: 提出了一种基于自由二元判决图转换的可测性优化方法。该方法首先将电路转化为FB-DD表达形式,然后用切换单元来替换FBDD中的节点,以形成易测的多级网络,再通过冗余的认定和消除来达到可测性逻辑优化的目的。与以前的可测性设计方法相比,这种方法适用于任意电路,特别是规模较大、不能用两级逻辑表达的电路。

English Abstract

章小兵, 王勇, 陈光. 基于自由二元判决图转换的可测性优化方法[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 171-174.
引用本文: 章小兵, 王勇, 陈光. 基于自由二元判决图转换的可测性优化方法[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(2): 171-174.
Zhang Xiaobing, Wang Yong, Cheng Guangju. Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 171-174.
Citation: Zhang Xiaobing, Wang Yong, Cheng Guangju. Testability Optimization Based on Free Binary Decision Diagram Transformation[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(2): 171-174.

目录

    /

    返回文章
    返回