测试产生的神经网络方法及若干问题研究

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测试产生的神经网络方法及若干问题研究

潘中良, 陈光

文章导航 > 电子科技大学学报 > 1997 > 26(3): 324-327

潘中良, 陈光. 测试产生的神经网络方法及若干问题研究[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(3): 324-327.

引用本文:

潘中良, 陈光. 测试产生的神经网络方法及若干问题研究[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(3): 324-327.

Pan Zhongliang, Chen Guangju. Neural Network Method of Test Pattern Generation and Some Problems in Design[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(3): 324-327.

Citation:

Pan Zhongliang, Chen Guangju. Neural Network Method of Test Pattern Generation and Some Problems in Design[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(3): 324-327.

测试产生的神经网络方法及若干问题研究

潘中良,
陈光

1.
电子科技大学CAT室成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科技攻关项目

作者简介:
潘中良男 30岁博士生

中图分类号: TN407;TP11

Neural Network Method of Test Pattern Generation and Some Problems in Design

1.
CAT Lab. UEST of China Chengdu 610054

摘要: 介绍了在微机上开发的一种基于神经网络的测试生成系统结构,详细讨论了系统中各模块的实现方案。从提高效率的角度,对电路测试生成中神经网络这一方法的发展及今后须解决的问题做了讨论。
- 数字电路 /
- 测试图形产生 /
- 神经网络 /
- 电路结构分析 /
- 优化算法
Abstract: A test pattern generation system implemented with neural network method is introduced in this paper.The system consist of circuit description,preprocessing,the build of neural network,test pattern generation and test informations module.A lot of strategies are discussed to improve the performances of the method,such as the selection of constrained network that accords with the circuit under test,evaluating the values of neurons,circuit partition,the selection of optimization algorithms.Some problems in the test pattern generation method based on neural network is presented and discussed.The experimental results indicate the test system is effective.
- test pattern generation /
- neural network /
- constrained network /
- optimization algorithms /

[1]	来新泉, 杜宇, 钟龙杰, 丁睿. TL环路在电流模式电路中的分析及其应用研究 . 电子科技大学学报, 2017, 46(6): 806-811. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2017.06.002
[2]	王鹏, 黄焱, 安俊秀, 李建平. 多尺度量子谐振子算法在组合优化问题中的性能分析 . 电子科技大学学报, 2016, 45(3): 469-474. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2016.02.027
[3]	谭骏, 陈兴蜀, 杜敏, 朱锴. 基于自适应BP神经网络的网络流量识别算法 . 电子科技大学学报, 2012, 41(4): 580-585. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.04.020
[4]	蒋定德, 胡光岷, 倪海转. IP骨干网络流量矩阵估计算法研究 . 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 420-424. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.021
[5]	荣健, 乔文钊. 基于模糊神经系统的多传感器数据融合算法 . 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 376-378,424.
[6]	陈文宇, 刘井波, 孙世新. 层次分析的神经网络集成方法 . 电子科技大学学报, 2008, 37(3): 432-435.
[7]	袁继敏, 李小玲, 古天祥. 基于时空神经网络增强数字示波器功能的研究 . 电子科技大学学报, 2007, 36(5): 938-941.
[8]	陈科, 许家珆, 程永新. 基于免疫算法和神经网络的新型抗体网络 . 电子科技大学学报, 2006, 35(5): 804-806,840.
[9]	王定成, 王毅, 钟守铭. 一类神经网络算法的渐近行为 . 电子科技大学学报, 2003, 32(2): 221-224.
[10]	张宇, 郭晶, 周激流. 动态变异遗传算法 . 电子科技大学学报, 2002, 31(3): 234-239.
[11]	梁金明, 章毅. 基于回路神经网络的特征子空间估值算法 . 电子科技大学学报, 2002, 31(6): 612-618.
[12]	陈中柘. 神经网络定性分析 . 电子科技大学学报, 2002, 31(3): 250-254.
[13]	赵季红, 曲桦. WDM光网络中RWA算法的性能分析 . 电子科技大学学报, 2002, 31(2): 180-184.
[14]	朱文莉. 一类具有时滞的神经网络的稳定性分析 . 电子科技大学学报, 2000, 29(5): 556-559.
[15]	曾成碧, 陈光. VLSI功能测试的最佳测试序列的选取 . 电子科技大学学报, 2000, 29(2): 178-181.
[16]	唐普英, 杨春华, 黄顺吉. 一种基于优化神经网络的最佳多用户检测器 . 电子科技大学学报, 1999, 28(2): 116-119.
[17]	曾成碧, 陈光. 可达树分析法及其在测试中的应用 . 电子科技大学学报, 1999, 28(5): 524-526.
[18]	李良钰, 王仕璠, 刘盛纲. 光学优化设计方法的对比研究 . 电子科技大学学报, 1998, 27(2): 219-224.
[19]	陈朝阳, 陈光, 虞厥邦. 一个基于神经网络的测试生成系统 . 电子科技大学学报, 1997, 26(1): 59-62.
[20]	潘中良, 陈光. 模拟电路故障诊断的神经网络专家系统方法 . 电子科技大学学报, 1997, 26(4): 405-408.

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测试产生的神经网络方法及若干问题研究

潘中良,
陈光

1. 电子科技大学CAT室成都 610054

基金项目:

国家"八五"重点科技攻关项目

作者简介:
潘中良男 30岁博士生

收稿日期: 1996-07-08
修回日期: 1996-09-09
刊出日期: 1997-06-15

中图分类号: TN407;TP11

关键词:

摘要: 介绍了在微机上开发的一种基于神经网络的测试生成系统结构,详细讨论了系统中各模块的实现方案。从提高效率的角度,对电路测试生成中神经网络这一方法的发展及今后须解决的问题做了讨论。

English Abstract

潘中良, 陈光. 测试产生的神经网络方法及若干问题研究[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(3): 324-327.

引用本文:

潘中良, 陈光. 测试产生的神经网络方法及若干问题研究[J]. 电子科技大学学报, 1997, 26(3): 324-327.

Pan Zhongliang, Chen Guangju. Neural Network Method of Test Pattern Generation and Some Problems in Design[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(3): 324-327.

Citation:

Pan Zhongliang, Chen Guangju. Neural Network Method of Test Pattern Generation and Some Problems in Design[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 1997, 26(3): 324-327.

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