ISSN
1001-0548
CN
51-1207/TN
CODEN DKDAEM
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集成电路互连线电迁移建模综述
马建国
,
姚明
,
TAN Cher Ming
Review of Electromigration Modeling of IC Interconnects
MA Jian-guo
,
YAO Ming
,
TAN Cher Ming