电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析

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电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析

姜书艳, 罗毅, 罗刚, 谢永乐

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姜书艳, 罗毅, 罗刚, 谢永乐. 电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(1): 61-64. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

引用本文:

姜书艳, 罗毅, 罗刚, 谢永乐. 电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(1): 61-64. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

JIANG Shu-yan, LUO Yi, LUO Gang, XIE Yong-le. Analysis of Dynamic Supply Current Testing for Gate Oxide Shorts Circuit Level[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(1): 61-64. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

Citation:

JIANG Shu-yan, LUO Yi, LUO Gang, XIE Yong-le. Analysis of Dynamic Supply Current Testing for Gate Oxide Shorts Circuit Level[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(1): 61-64. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

姜书艳¹,
罗毅¹,
罗刚²,
谢永乐^1礻禹

1.
电子科技大学自动化工程学院成都 610054;
2.
成都电子机械高等专科学校机械工程系成都 610031

基金项目:

国家自然科学基金(60971036);国家863项目(2008AA01Z104)

作者简介:
姜书艳(1969-),女,副教授,主要从事超大规模集成电路(VLSI)测试、电子系统的故障诊断与预测、可信电子系统等方面的研究.

中图分类号: TM93

Analysis of Dynamic Supply Current Testing for Gate Oxide Shorts Circuit Level

1.
School of Automation Engineering,University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054;
2.
Department of Mechanical Engineering,Chengdu Electromechanical College Chengdu 610031

摘要: 栅氧短路故障对于集成电路的稳定性有着重要的影响,故障行为会在不产生逻辑错误的情况下导致参数失效。该文使用了一种电路级的故障模型模拟栅氧短路故障,研究了栅氧缺陷对与非门电路的影响,选取了适合于电流测试的测试矢量,对未发生逻辑错误的故障电路的动态电流进行分析。在实验中采用了TSMC 0.18μm CMOS工艺,仿真结果显示通过分析电源通路上的动态电流可以检测有潜隐性故障的器件。与电压测试方法相比,动态电流测试能更好地对栅氧短路缺陷进行诊断。
- 故障模型 /
- 缺陷测试 /
- 动态电流测试 /
- 故障模拟
Abstract: Gate oxide short is one of the key issue to the reliability of integrated circuit (IC),it can result in parametric failure without any logic error.In this paper,the behavior of a CMOS NAND gate with this gate oxide shorts is investigated base on dynamic supply current (IDDT) testing in circuit level.Some appropriate test patterns are selected to simulate and analyze the dynamic supply current of the gate oxide short circuit in TSMC 0.18 μm technology without any logic fault.The simulate results demonstrate that it is possible to detect the defective devices by analyzing the IDDT on the power supply path.Compared with the voltage test,IDDT testing can detect the gate oxide shorts more effectively.
- defect model /
- fault detection /
- IDDT testing /
- defect simulation

[1]	周启忠, 谢永乐, 毕东杰, 李西峰. 种模拟电路参数型故障诊断新方法 . 电子科技大学学报, 2017, 46(2): 386-391. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2017.02.012
[2]	高媛, 杨成林. 基于复模型的模拟电路故障诊断 . 电子科技大学学报, 2017, 46(4): 540-546. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2017.04.011
[3]	姜书艳, 罗刚, 夏登明, 李琦, 宋国明. 片上网络互连线延迟故障测试方法研究 . 电子科技大学学报, 2016, 45(4): 557-563. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2016.04.008
[4]	高昕, 王厚军, 刘震. 线性模拟电路软故障建模与诊断策略 . 电子科技大学学报, 2015, 44(3): 497-402. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.03.014
[5]	李旻, 咸卫明, 龙兵, 王厚军. 基于特征优选模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2014, 43(4): 557-561. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.04.015
[6]	叶笠, 王厚军, 叶芃, 田书林. 容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法 . 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
[7]	崔应霞, 李龙澍, 姚晟. 组合测试用例集的动态生成算法 . 电子科技大学学报, 2011, 40(4): 612-615.
[8]	张健, 徐红兵, 王情. 多重分形谱在集成电路动态电流故障诊断中的应用 . 电子科技大学学报, 2011, 40(4): 544-548.
[9]	杨成林, 田书林, 龙兵. 模拟故障诊断中的容差处理方法研究 . 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 47-52. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.009
[10]	李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵. 容差条件下的模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013
[11]	陈世杰, 连可, 王厚军. 遗传算法优化的SVM模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(4): 553-558. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.04.019
[12]	孙永奎, 陈光礻禹, 李辉. 灵敏度分析和SVM诊断模拟电路故障的方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(6): 971-974. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.016
[13]	陈世杰, 连可, 王厚军. 采用多信号流图模型的雷达接收机故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(1): 87-91.
[14]	殷时蓉, 陈光, 谢永乐. 应用Elman网络优化非线性模拟电路测试激励 . 电子科技大学学报, 2008, 37(4): 574-577.
[15]	杨德才, 陈光礻禹, 谢永乐. 累加器实现的时延故障单跳变测试序列生成 . 电子科技大学学报, 2008, 37(2): 238-240,243.
[16]	许都, 宋雷, 王宏. 死锁恢复的多维交换结构容错路由算法 . 电子科技大学学报, 2008, 37(6): 844-847,854.
[17]	张金林, 沈绪榜, 陈朝阳. SoC中IP核间互联总线完整性故障测试模型 . 电子科技大学学报, 2007, 36(3): 611-613,631.
[18]	刘建成, 蒋新华, 吴今培. 智能异构模型在电机故障诊断中的研究 . 电子科技大学学报, 2003, 32(2): 212-216.
[19]	王勇, 陈光礻禹. 时滞测试能量模型的研究和改进 . 电子科技大学学报, 1998, 27(3): 305-309.
[20]	潘中良, 陈光. 模拟电路故障诊断的神经网络专家系统方法 . 电子科技大学学报, 1997, 26(4): 405-408.

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电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

1. 电子科技大学自动化工程学院成都 610054;

2. 成都电子机械高等专科学校机械工程系成都 610031

基金项目:

国家自然科学基金(60971036);国家863项目(2008AA01Z104)

作者简介:
姜书艳(1969-),女,副教授,主要从事超大规模集成电路(VLSI)测试、电子系统的故障诊断与预测、可信电子系统等方面的研究.

收稿日期: 2008-07-08
修回日期: 2009-10-07
刊出日期: 2010-02-15

中图分类号: TM93

关键词:

摘要: 栅氧短路故障对于集成电路的稳定性有着重要的影响,故障行为会在不产生逻辑错误的情况下导致参数失效。该文使用了一种电路级的故障模型模拟栅氧短路故障,研究了栅氧缺陷对与非门电路的影响,选取了适合于电流测试的测试矢量,对未发生逻辑错误的故障电路的动态电流进行分析。在实验中采用了TSMC 0.18μm CMOS工艺,仿真结果显示通过分析电源通路上的动态电流可以检测有潜隐性故障的器件。与电压测试方法相比,动态电流测试能更好地对栅氧短路缺陷进行诊断。

English Abstract

姜书艳, 罗毅, 罗刚, 谢永乐. 电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(1): 61-64. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

引用本文:

姜书艳, 罗毅, 罗刚, 谢永乐. 电路级栅氧短路故障的动态电流测试分析[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(1): 61-64. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

JIANG Shu-yan, LUO Yi, LUO Gang, XIE Yong-le. Analysis of Dynamic Supply Current Testing for Gate Oxide Shorts Circuit Level[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(1): 61-64. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

Citation:

JIANG Shu-yan, LUO Yi, LUO Gang, XIE Yong-le. Analysis of Dynamic Supply Current Testing for Gate Oxide Shorts Circuit Level[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(1): 61-64. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.01.015

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