容差条件下的模拟电路故障诊断方法

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容差条件下的模拟电路故障诊断方法

李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵

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李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵. 容差条件下的模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

引用本文:

李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵. 容差条件下的模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

LI Yan-jun, WANG Hou-jun, ZHOU Long-fu, SHI Yi-bing. Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

Citation:

LI Yan-jun, WANG Hou-jun, ZHOU Long-fu, SHI Yi-bing. Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

容差条件下的模拟电路故障诊断方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

1.
电子科技大学自动化工程学院成都 610054

基金项目:

新世纪优秀人才支持计划(NCET-05-0804)

作者简介:
李焱骏(1978-)，男，博士生，主要从事模拟电路故障诊断、信号处理方法等方面的研究.

中图分类号: TN713

Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance

1.
School of Automation Engineering,University of Electronic Science and Technology of China Chengdu 610054

摘要: 指出了线性模拟电路中，测试点电压向量在故障状态下相对于标准状态下的变化量，其向量方向由故障元件在被测电路中的位置决定。证明了线性电路中节点电压灵敏度向量的方向能够反映故障元件的位置。结合节点电压敏感度向量的模反映故障元件参数变化量到测试点电压变化量的权重这一特点，以节点电压灵敏度向量为故障特征建立了故障字典。提出一种容差条件下的故障诊断判定算法，兼顾故障定位和元件的参数变化量，可以有效地实现模拟电路元件参数在一定容差范围内随机变化条件下的单一软故障诊断。仿真结果验证了该理论的正确性和方法的有效性。
- 判定算法 /
- 故障字典 /
- 故障特征 /
- 灵敏度向量
Abstract: In this paper, it is proved that the direction of the node-voltage difference vector, which is the difference between the node-voltage vector at faulty state and the one at the nominal state, is determined only by the location of the faulty element in linear analog circuits. It is further proved that the direction of the sensitivity vector indicates the location of the faulty element. Considering that the module of the sensitivity vector is the weight of the faulty element's parameter deviation to the voltage deviation, fault dictionary is set up based on node-voltage sensitivity vectors. A decision algorithm is proposed in consideration of both the location and the parameter deviation of the faulty element. Single soft fault with tolerance in analog circuit can then be diagnosed. The validity of the theory and the availability of the method are verified by simulation results.
- decision algorithm /
- fault dictionary /
- fault signature /
- sensitivity vector

[1]	陈伟建, 赵思宇, 邹瑞杰, 张晓宁. PRESENT密码的差分故障攻击 . 电子科技大学学报, 2019, 48(6): 865-869. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2019.06.010
[2]	高媛, 杨成林. 基于复模型的模拟电路故障诊断 . 电子科技大学学报, 2017, 46(4): 540-546. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2017.04.011
[3]	杨凯, 郭强, 刘晓露, 刘建国. 基于多重特征向量的有向网络社团结构划分算法 . 电子科技大学学报, 2016, 45(6): 1014-1019, 1032. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2016.06.024
[4]	彭倍, 周吴, 李伦, 于慧君, 彭鹏, 何晓平. 硼掺杂硅翘曲对微加速度计灵敏度的影响 . 电子科技大学学报, 2016, 45(4): 696-700. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2016.04.023
[5]	徐保根, 谢伟, 万义和, 汤四龙, 龚辉, 丁学科. 一种基于广义特征向量的改进ESPRIT测向算法 . 电子科技大学学报, 2015, 44(2): 201-204. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2015.02.007
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[9]	于凯, 荣莉莉, 王瑞锦, 郭文强. 基于邻居节点平均度的级联故障袭击策略研究 . 电子科技大学学报, 2014, 43(6): 917-922. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.06.021
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[13]	陈世杰, 连可, 王厚军. 遗传算法优化的SVM模拟电路故障诊断方法 . 电子科技大学学报, 2009, 38(4): 553-558. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.04.019
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[16]	陈光宇, 黄锡滋, 唐小我. 故障树模块化分析系统可靠性 . 电子科技大学学报, 2006, 35(6): 989-992.
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[20]	陈金岭, 王保强, 杨秀丽. 多传感器系统的灵敏度、选择性与精度 . 电子科技大学学报, 1997, 26(3): 318-323.

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容差条件下的模拟电路故障诊断方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

1. 电子科技大学自动化工程学院成都 610054

基金项目:

新世纪优秀人才支持计划(NCET-05-0804)

作者简介:
李焱骏(1978-)，男，博士生，主要从事模拟电路故障诊断、信号处理方法等方面的研究.

收稿日期: 2008-10-15
修回日期: 2009-02-19
刊出日期: 2010-06-15

中图分类号: TN713

关键词:

摘要: 指出了线性模拟电路中，测试点电压向量在故障状态下相对于标准状态下的变化量，其向量方向由故障元件在被测电路中的位置决定。证明了线性电路中节点电压灵敏度向量的方向能够反映故障元件的位置。结合节点电压敏感度向量的模反映故障元件参数变化量到测试点电压变化量的权重这一特点，以节点电压灵敏度向量为故障特征建立了故障字典。提出一种容差条件下的故障诊断判定算法，兼顾故障定位和元件的参数变化量，可以有效地实现模拟电路元件参数在一定容差范围内随机变化条件下的单一软故障诊断。仿真结果验证了该理论的正确性和方法的有效性。

English Abstract

李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵. 容差条件下的模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

引用本文:

李焱骏, 王厚军, 周龙甫, 师奕兵. 容差条件下的模拟电路故障诊断方法[J]. 电子科技大学学报, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

LI Yan-jun, WANG Hou-jun, ZHOU Long-fu, SHI Yi-bing. Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

Citation:

LI Yan-jun, WANG Hou-jun, ZHOU Long-fu, SHI Yi-bing. Method on Analog Circuit Fault Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2010, 39(3): 384-387. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.03.013

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