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容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法

叶笠 王厚军 叶芃 田书林

叶笠, 王厚军, 叶芃, 田书林. 容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
引用本文: 叶笠, 王厚军, 叶芃, 田书林. 容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
YE Li, WANG Hou-jun, YE Peng, TIAN Shu-lin. Geometric Methods of Faults Isolation for Analog Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
Citation: YE Li, WANG Hou-jun, YE Peng, TIAN Shu-lin. Geometric Methods of Faults Isolation for Analog Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010

容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
基金项目: 

国家自然科学基金(60934002);国家高技术研究发展计划(2006AA06Z222)

详细信息
    作者简介:

    叶笠(1972-),男,博士生,主要从事模拟电路故障诊断、故障诊断与预测、自动测试仪器与仪表方面的研究.

  • 中图分类号: TP206

Geometric Methods of Faults Isolation for Analog Diagnosis with Tolerance

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出版历程
  • 收稿日期:  2009-06-26
  • 修回日期:  2009-12-23
  • 刊出日期:  2011-02-15

容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
    基金项目:

    国家自然科学基金(60934002);国家高技术研究发展计划(2006AA06Z222)

    作者简介:

    叶笠(1972-),男,博士生,主要从事模拟电路故障诊断、故障诊断与预测、自动测试仪器与仪表方面的研究.

  • 中图分类号: TP206

摘要: 针对传统故障字典法的3个主要缺陷,建立了以节点电压增量比作为特征向量的故障字典,该字典能对电路中每个元件的硬故障和软故障作出诊断,具有测前模拟次数少、占用存储空间小、诊断范围宽的特点。针对由于元件参数容差导致故障定位难度大的问题,阐述了如何将几何学中的一些观点应用到故障诊断中,并建立了3个故障隔离的几何模型;最后通过实例验证了该诊断理论和方法的正确性和有效性。该方法适用于线性模拟电路。

English Abstract

叶笠, 王厚军, 叶芃, 田书林. 容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
引用本文: 叶笠, 王厚军, 叶芃, 田书林. 容差模拟电路诊断中故障隔离的几何方法[J]. 电子科技大学学报, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
YE Li, WANG Hou-jun, YE Peng, TIAN Shu-lin. Geometric Methods of Faults Isolation for Analog Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010
Citation: YE Li, WANG Hou-jun, YE Peng, TIAN Shu-lin. Geometric Methods of Faults Isolation for Analog Diagnosis with Tolerance[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2011, 40(1): 53-57. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2011.01.010

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