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微体系结构软错误易感性阶段特性研究

成玉 马安国 张承义 张民选

成玉, 马安国, 张承义, 张民选. 微体系结构软错误易感性阶段特性研究[J]. 电子科技大学学报, 2012, 41(2): 274-279. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020
引用本文: 成玉, 马安国, 张承义, 张民选. 微体系结构软错误易感性阶段特性研究[J]. 电子科技大学学报, 2012, 41(2): 274-279. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020
CHENG Yu, MA An-guo, ZHANG Cheng-yi, ZHANG Min-xuan. Characterization on the Phase Behavior of Microarchitecture Soft Error Vulnerability[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2012, 41(2): 274-279. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020
Citation: CHENG Yu, MA An-guo, ZHANG Cheng-yi, ZHANG Min-xuan. Characterization on the Phase Behavior of Microarchitecture Soft Error Vulnerability[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2012, 41(2): 274-279. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020

微体系结构软错误易感性阶段特性研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020
基金项目: 

国家自然科学基金(60970036);国家863计划(2009AA01Z124,2009AA01Z102)

详细信息
    作者简介:

    成玉(1984-),女,博士生,主要从事高性能微处理器设计和可靠性技术方面的研究.

  • 中图分类号: TP3

Characterization on the Phase Behavior of Microarchitecture Soft Error Vulnerability

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出版历程
  • 收稿日期:  2011-06-12
  • 修回日期:  2011-11-15
  • 刊出日期:  2012-04-15

微体系结构软错误易感性阶段特性研究

doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020
    基金项目:

    国家自然科学基金(60970036);国家863计划(2009AA01Z124,2009AA01Z102)

    作者简介:

    成玉(1984-),女,博士生,主要从事高性能微处理器设计和可靠性技术方面的研究.

  • 中图分类号: TP3

摘要: 软错误易感性的阶段特性对微处理器进行动态容错管理是当前软错误研究领域的热点。针对体系结构弱点因子AVF是最常用的软错误易感性评估指标之一,提出了一种快速有效的AVF评估框架,对微处理器关键部件的AVF值进行评估。基于基本块和性能参数信息捕获部件软错误易感性的阶段特性,并利用k路划分和回归树算法对部件的软错误易感性进行阶段划分。实验结果表明,结合性能参数信息和回归树算法能够最好地对软错误易感性的阶段特性进行识别。

English Abstract

成玉, 马安国, 张承义, 张民选. 微体系结构软错误易感性阶段特性研究[J]. 电子科技大学学报, 2012, 41(2): 274-279. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020
引用本文: 成玉, 马安国, 张承义, 张民选. 微体系结构软错误易感性阶段特性研究[J]. 电子科技大学学报, 2012, 41(2): 274-279. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020
CHENG Yu, MA An-guo, ZHANG Cheng-yi, ZHANG Min-xuan. Characterization on the Phase Behavior of Microarchitecture Soft Error Vulnerability[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2012, 41(2): 274-279. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020
Citation: CHENG Yu, MA An-guo, ZHANG Cheng-yi, ZHANG Min-xuan. Characterization on the Phase Behavior of Microarchitecture Soft Error Vulnerability[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2012, 41(2): 274-279. doi: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020

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